Holly赫立麟翔系列在线AOI使用手册 - 第29页
上海赫立电子 科技有限公司 在线型自动光 学检测仪 使用手册 第 28 页 共 64 页 色抽取 HSV ” ， 并 同时进行 适当的 “ 图像源” 选 择， 以 及适当的 算法参数设置。 PCB Bad Mark Bad Mark 2-3-7. Sid eMark SideMark （板面标 识） 检测库 主要用于电 路板检测 AB 面自动 识别， 即放入 电路板 A 面 将自动调入 A 程序 检测，而 放入电路板 B 面将 自动调入…
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IC SOP QFP
2-3-6. Bad Mark
Bad Mark（拼板坏板标识）检测库主要用于自动屏蔽检测受检电路板任一拼板坏板（所谓拼板坏板
是指因板材自身来料不良而造成个别拼板报废，该报废拼板往往不贴装任何元件）。
对于一个检测程序来说，电路板有几块拼版就会有几个 Bad Mark。当 Bad Mark 检测窗口报错时，
则视其所在拼板为坏板，并且自动屏蔽检测该拼板；当 Bad Mark 检测窗口不报错时，则按正常状况检
测其所在拼板。 Bad Mark
1 鼠标左键单击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元
件目录树内的 Bad Mark 点所在目录，在随即出现的右下方目录
属性“类型”下拉列表内选择“Bad Mark”；（参见右图）
2 鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Bad Mark 点所在
目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库新
建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 BADMARK 点检测库的名称，例如：BADMARK。（参见下图）
3 在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件（例
如，BADMARK_0），“图像”板块将自动切换至相应的位置；
鼠标左键
单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗口，在左
下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通
用”，“算法”列表选择“颜
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色抽取 HSV”，并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设置。 PCB
Bad Mark Bad Mark
2-3-7. SideMark
SideMark（板面标识）检测库主要用于电路板检测 AB 面自动识别，即放入电路板 A 面将自动调入
A 程序检测，而放入电路板 B 面将自动调入 B 程序检测，无需人工手动调入程序。
要启用 AB 面自动识别功能，必须要依次打开两个检测程序，A 面程序及 B 面程序，A 程序检测到
B 面的图像必须报错，而 B 程序检测到 A 面的图像同样也必须报错。 AB
1 鼠标左键单击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内
的元件目录树内的 Side Mark 点所在目录，在随即出现的
右下方目录属性“类型”下拉列表内选择“Side Mark”；
（参见右图）
2 鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Side Mark 点所
在目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库
新建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 SIDEMARK 点检测库的名称，例如：SIDEMARK。（参见下图）
3 在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件
（例如，SIDEMARK_0），“图像”板块将自动切换至相应的位置；鼠
标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗
口，在左下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通用”，“算法”
列表选择“颜色抽取 HSV”，并同时进
行适当的“图像源”选择，以及适当的
算法参数设置，
Side Mark
AB
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A B
2-3-8. BarCode
1 鼠标左键单击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元
件目录树内的 BarCode（条码）所在目录，在随即出现的右下
方目录属性“类型”下拉列表内选择“条码”；（参见右图）
2 鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Bad Mark 点所在
目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库新
建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入条码检测库的名称，例如：BARCODE。（参见下图）
3 在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一
个元件（例如，BARCODE_0），“图像”板块将自动切换至
相应的位置；鼠标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗
口树内出现第一个检测窗口，在左下方“属性”板块“报错
类型”列表选择“通用”，“算法”列表选择“条码识别”，
并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设
置，
0
180
90 270
2-3-9.
通常情况下，“赫立 AOI 系统软件”已附带了绝大多数常用 SMT（表面贴装）元件的标准检测库，
而且赫立标准检测库的兼容性和移植性非常好。通过直接给待测元件料号/封装形式直接选择链接已有检