CM602基础培训教材 - 第72页

72/103 1 4 ,实装坐标示教。 生产基板的同一图形上连续发生实装位置偏离 时,可通过实装坐标示教进行修正。 实装坐标示教有3种示教模式,请根 据实装位置偏离的状态区别使用。 1.实装 仅在特定序列号发生实装位置偏离时使用。 变更示教完毕的序列号的实装数据坐标。 2.实装/区块 在各区块的同一位置发生实装位置偏离时使用。 变更示教后的芯片和相同区块No的 全部实装数据的坐标和该区块数据。 3.图形 在用正常的数据进行基板…

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按操作面板的 +[次识别位置]。
移向下一基板识别标记位置,自动进行识别动
作。
按[完成]。
数据自动保存。
在基板识别上选择[ABC点]、[ABCD点]时,
请反复运行步骤7.~步骤8,同时对C点·D点
进行示教。
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14,实装坐标示教。
生产基板的同一图形上连续发生实装位置偏离时,可通过实装坐标示教进行修正。
实装坐标示教有3种示教模式,请根据实装位置偏离的状态区别使用。
1.实装
仅在特定序列号发生实装位置偏离时使用。
变更示教完毕的序列号的实装数据坐标。
2.实装/区块
在各区块的同一位置发生实装位置偏离时使用。
变更示教后的芯片和相同区块No的全部实装数据的坐标和该区块数据。
3.图形
在用正常的数据进行基板识别但仍会发生全体的实装位置偏移时使用。变更原点偏移量及基板
识别坐标,使已示教的芯片的变更坐标量与所有芯片对应地显示出来。
未实装基板
示教芯片中心坐标。
计算所计测的所有坐标的平均值, 把它作为芯片中心的坐标。
计测位置可选择中心或以中心为对称的2点 (计测1和3、计测2和4),4点 (计测1,2,3,4)。
在未实装基板上执行[计测1]~[计测4]时,如下图1,2,3所示,请选择对称位置的计测点示教移
动量。
要求
在进行这些示教前,请确认CAD数据与正使用的数据是否有误。这些示教与变更CAD
数据的操作相同,所以请正确进行示教后的数据管理。
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实装完成的基板
指定已实装芯片任意部位的当前位置及应实装的位置 (修正位置),将其相对的偏移量在
数据中显示出来。
计测位置不必以中心为对称,可自由选择。
选择复数时,则将其平均偏移量显示为数据。
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