TR7500_Series_Software_ch_v4-6 - 第408页
Test Resear ch Inc. 394 TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 備註： [ 教導敏感度 ] 設定數值需大於 [ 檢測敏感度 ] ，表示教導的敏感度要較敏感，否 則會產生太多誤判。 4.10.2.11 Extra Blob 可用來檢測表面刮傷、髒污與 IC 翹腳。 [Train] 模式下的檢測參數設定畫面： Threshold low/ high ：設定灰階門檻值範圍。使用…
Test Research Inc.
TR7500 Series User Guide–Software 393
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
教導區：設定[ROI]框在學習時的參數
敏感度：設定 70 分表示若相鄰兩畫素間之灰階值若相差 30(100-70)以上的話，
就認定這兩個畫素是已存在的邊界。
遮罩區：以敏感區區分出的兩個邊界往外延多少畫素增加遮罩。舉例來說，若設
定為 1 的話，表示除了上述視為邊界的相鄰兩畫素外，與這兩畫素相鄰 1 個畫素
的點都增加遮罩且不檢測。
Mask Zone of Box：以檢測框往外延伸多少 Pixel 都加上遮罩。
檢測參數區：設定[ROI]框在檢測時的參數，檢測時僅針對位在[ROI]框內但教導後
沒有被遮蔽的區域做檢測。
檢測敏感度：設定 60 分表示若相鄰兩畫素間之灰階值若相差 40(100-60)以上的
話，就認定這兩個畫素是新增的邊界或刮痕。
容忍度：設定為 5 表示若檢測後新增的邊界中有任何一群大於 5 個畫素的話，會
被認定為有瑕疵。
Test Research Inc.
394 TR7700 SII User Guide–Software
備註：[教導敏感度]設定數值需大於[檢測敏感度]，表示教導的敏感度要較敏感，否
則會產生太多誤判。
4.10.2.11 Extra Blob
可用來檢測表面刮傷、髒污與 IC 翹腳。
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
Threshold low/ high：設定灰階門檻值範圍。使用者可以藉由調整圖層權重來提升
檢測效果。
low<level<=high, level>high, level<=low：設定檢測範圍（介於設定的灰界範圍
內、大於設定大於範圍上限，或者設定小於範圍下限。
Defect Pixel Count ：系統會將符合灰階門檻值設定範圍內的畫素(pixel)標示出
來，並將其中相鄰的畫素視為同一群組。使用者可以設定當群組畫素數量高過或者
低於多少才判定為缺陷。若填入數值為 10<=Defect Pixel Count<2500 表示，若檢測
出的的群組畫素數量介於 10~2500 時，才會判定為缺陷。
Principal axis aspect ratio>：若抓出群組的長寬比大於或小於所輸入的值的話才
視為缺點。若輸入 0 表示此項目不檢測。
change to <：勾選本選項時，[Principal axis aspect ratio]參數的定義會改為小於，
即群組的長寬比小於所輸入的值的話才視為缺點。
Test Research Inc.
TR7500 Series User Guide–Software 395
Defect Size(um)：設定判定為 Fail 的 Defect 長邊數值(um)。需搭配 DefectNumner
使用。
DefectNumber ：設定在設定 Defect Size 內的缺陷數量容許值。需搭配 Defect
Size(um) 使用。
Short-Side Size：將 Defect Size 群組計算由長邊改為短邊長度計算。
4.10.2.12 Edge Window
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
門檻值：相臨 pixel 之灰階差異門檻值。
Pixel Count：設定畫素門檻值。當檢測框範圍內合乎條件的畫素總數大於這個值，
則顯示 Fail。
4.10.2.13 Color Window
檢測所選取的範圍內是否達到所設定的 RGB 灰階分布比例。可用來檢測灰階差異不明
顯但某一 RBG 顏色差異大的位置，例如銅箔，元件的空焊及缺件。