TR7500_Series_Software_ch_v4-6 - 第409页
Test Resear ch Inc. TR 7500 Series User Guide – Soft ware 395 Defect Size(um) ：設定判定為 Fail 的 Defect 長邊數值 (um) 。需搭配 DefectNumner 使用。 DefectNumber ：設定在設定 Defect Size 內的缺陷數量容許值。需搭配 Defect Size(um) 使用。 Short-Side Size ：…
Test Research Inc.
394 TR7700 SII User Guide–Software
備註：[教導敏感度]設定數值需大於[檢測敏感度]，表示教導的敏感度要較敏感，否
則會產生太多誤判。
4.10.2.11 Extra Blob
可用來檢測表面刮傷、髒污與 IC 翹腳。
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
Threshold low/ high：設定灰階門檻值範圍。使用者可以藉由調整圖層權重來提升
檢測效果。
low<level<=high, level>high, level<=low：設定檢測範圍（介於設定的灰界範圍
內、大於設定大於範圍上限，或者設定小於範圍下限。
Defect Pixel Count ：系統會將符合灰階門檻值設定範圍內的畫素(pixel)標示出
來，並將其中相鄰的畫素視為同一群組。使用者可以設定當群組畫素數量高過或者
低於多少才判定為缺陷。若填入數值為 10<=Defect Pixel Count<2500 表示，若檢測
出的的群組畫素數量介於 10~2500 時，才會判定為缺陷。
Principal axis aspect ratio>：若抓出群組的長寬比大於或小於所輸入的值的話才
視為缺點。若輸入 0 表示此項目不檢測。
change to <：勾選本選項時，[Principal axis aspect ratio]參數的定義會改為小於，
即群組的長寬比小於所輸入的值的話才視為缺點。
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TR7500 Series User Guide–Software 395
Defect Size(um)：設定判定為 Fail 的 Defect 長邊數值(um)。需搭配 DefectNumner
使用。
DefectNumber ：設定在設定 Defect Size 內的缺陷數量容許值。需搭配 Defect
Size(um) 使用。
Short-Side Size：將 Defect Size 群組計算由長邊改為短邊長度計算。
4.10.2.12 Edge Window
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
門檻值：相臨 pixel 之灰階差異門檻值。
Pixel Count：設定畫素門檻值。當檢測框範圍內合乎條件的畫素總數大於這個值，
則顯示 Fail。
4.10.2.13 Color Window
檢測所選取的範圍內是否達到所設定的 RGB 灰階分布比例。可用來檢測灰階差異不明
顯但某一 RBG 顏色差異大的位置，例如銅箔，元件的空焊及缺件。
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396 TR7700 SII User Guide–Software
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
1. 設定 RGB 三色門檻值範圍的上限(High)及下限(Low)。
2. 設定檢測框內符合 RGB 門檻值範圍的比例容許上限(Over Ratio)及下限(Under
Ratio)。即當檢測框內符合 RGB 門檻值範圍的比例低於下限或者高於上限時，判
定為 Fail。
3. 設定 RGB 三色的關係式(等於、大於或者小於) ，並設定差異值。(也輸入負值)
4. 點選進入 RGB 直方圖設定介面。直方圖設定介面顯示如下：
在直方圖中，橫軸代表該色的灰階度(從 0 到 255)，而縱軸代表其檢測框內該顏色灰
階分布的累積量。