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Test Resear ch Inc. TR 7500 Series User Guide – Soft ware 51 5. 使用者可使用右方工具對 F OV 進行微調。
Test Research Inc.
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3. 可按[下張]按鈕，依序檢視 FOV 內檢測框的設定。亦可直接輸入號碼，將影像跳
至指定的缺點 FOV。
4. 在影像區或元件列表區點選缺點元件時，右方的缺點樹狀圖列表會自動將該元件
的缺點列表標示出來，使用者可由此確認缺點的檢測框。
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TR7500 Series User Guide–Software 51
5. 使用者可使用右方工具對 FOV 進行微調。
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6. 按下[檢測]按鈕確認微調是否成功。
7. 所有的 FOV 都微調過後，按下[儲存專案]將修改的部分儲存起來。
8. 按[結束]將視窗關閉。
9. 選擇[操作/手動確認模式]，電路板進板後，按下[Inspect]開始檢測，並針對結果
進行上述微調作業。
10. 視情況反覆對於多片電路板進行微調直到程式穩定為止。
開始檢測。
2.11 套用範圍視窗介紹
程式製作及微調時，經常會出現以下視窗供使用者選擇設定要套用的範圍，其個別所
代表的意義如下所示。
只應用於此：只套用到所選擇的檢測框上
依電路板：多連板上相對應的檢測框都套用此設定。如下圖所示，在左圖電路板中
紅色的 Void 框經過參數修改設定後，點選依電路板，會套用到參數的檢測框如右
圖紅色框所示。