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5 Visionfunktionen Betriebsanleitung SIPLACE 80S-20/F4/F5 5.8 Empfehlung zur Visionzentrierung von Bauelementen Ausgabe 05/99 ab Softwareversion SR.405.xx 5 - 158 Einr ichte r 5.8.2 V isionzentrierung von Ab schirmbleche…
Betriebsanleitung SIPLACE 80S-20/F4/F5 5 Visionfunktionen
Ausgabe 05/99 ab Softwareversion SR.405.xx 5.8 Empfehlung zur Visionzentrierung von Bauelementen
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5.8 Empfehlung zur Visionzentrierung von Bauele-
menten
5.8.1 Visionzentrierung von Flip-Chips
5.8.1.1 Dateneingabe am Linienrechner
Beschreiben Sie den Ballradius.
Wählen Sie für die Toleranz Werte zwischen 10 % und 20 %.
5.8.1.2 Parametereinstellung am Stationsrechner
Wählen Sie im Menü ’Bauelement testen’, Option ’Beleuchtung’, die flache Beleuchtungsebene und set-
zen Sie Helligkeitswerte zwischen 200 und 255. Verwenden Sie dazu
keine
Transformationstafeln.
Wählen Sie unter der Option ’Ballabbildung’ einen positiven Ballkontrast.
HINWEIS:
Werden viele ’Nicht-Ball-Strukturen’ als Ballstrukturen erkannt - Sie erkennen dies an der Markierung mit
kleinen Kreuzen - erhöhen Sie den Ballkontrast. Die Anzahl der Kreuze läßt sich im Menü ’Messen’ wäh-
rend der Gridmessungen abschätzen.
5.8.1.3 Empfohlene Meßsequenz für Flip-Chips
Empfohlene Meßsequenz für die optische Zentrierung von Flip-Chips
Meßmodus Size Meßmodus Grid Meßmodus Ball
Auflösung bei der Winkelbe-
rechnung:
niedrige Auflösung
Bei Einfachmessung:
3 Balls pro Ecke
Robuste
Ballerkennung:
Hexwert P1 = 80
Schnelle
Ballerkennung:
Hex-Wert P1 = A0
HINWEIS:
Schalten Sie den Ballmodus aus, wenn keine Messung
aller Balls erforderlich ist.
Im Grid-Modus muß dann P1 auf 80 gesetzt sein.
Auflösung in Meßrichtung:
mittel
Bei Mehrfachmessung:
5 Balls pro Ecke
Auflösung
in Integrationsrichtung:
mittel
Hexwert P1 = 80
Tab. 5.8.1 Empfohlene Meßsequenz für die optische Zentrierung von Flip-Chips
5 Visionfunktionen Betriebsanleitung SIPLACE 80S-20/F4/F5
5.8 Empfehlung zur Visionzentrierung von Bauelementen Ausgabe 05/99 ab Softwareversion SR.405.xx
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5.8.2 Visionzentrierung von Abschirmblechen
HINWEIS:
Abschirmbleche müssen nur dann als BGA beschrieben werden, wenn ihre Abmessungen die Größe von
32 mm x 32 mm überschreiten. Dies ist die maximal zulässige Größe für Einfachmessungen. Wird der BGA-
Modus zur Beschreibung von Abschirmblechen verwendet, werden die Bohrungen vermessen.
5.8.2.1 Dateneingabe am Linienrechner
Beschreiben Sie den Radius der Bohrungen.
Wählen Sie für die Toleranz Werte zwischen 10% und 20 %.
5.8.2.2 Parametereinstellung am Stationsrechner
Wählen Sie im Menü ’Bauelement testen’ und der Option ’Beleuchtung’ die flache, die mittlere und die
steile Beleuchtungsebene.
Wählen Sie im Menü ’Bauelemente testen’, Option ’Ballabbildung’ einen negativen Ballkontrast.
HINWEIS:
Werden viele ’Nicht-Ball-Strukturen’ als Ballstrukturen erkannt - Sie erkennen dies an der Markierung mit
kleinen Kreuzen - verringern Sie den negativen Wert. Die Anzahl der Kreuze läßt sich im Menü ’Messen’
während der Gridmessungen abschätzen.
5.8.2.3 Empfohlene Meßsequenz für Abschirmbleche > 32 mm x 32 mm
Meßmodus Grid Meßmodus Ball
Mehrfachmessung:
5 Balls pro Ecke
Hex-Werte bei kleineren Bohrungen:
P1 = 80 (volle Auflösung)
Robuste Ballerkennung:
Hexwert P1 = 80
Schnelle Ballerkennung:
Hex-Wert P1 = A0
HINWEIS:
Schalten Sie den Ballmodus aus, wenn keine Messung
aller Balls erforderlich ist.
Im Grid-Modus muß dann P1 auf 80 gesetzt sein.
Tab. 5.8.2 Empfohlene Meßsequenz für die optische Zentrierung von Abschirmblechen
Betriebsanleitung SIPLACE 80S-20/F4/F5 5 Visionfunktionen
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5.8.2.4 Optimieren der Mehrfachmessung bei Abschirmblechen
In der Regel werden Abschirmbleche, die größer als 32 mm x 32 mm sind, mit Hilfe der Mehrfachmessung
optisch zentriert. Die Einfachmessung kann dennoch angewendet werden, wenn Sie einen Bauelementeaus-
schnitt wählen, der kleiner als 32 mm x 32 mm ist. Wählen Sie dazu ein charakteristisches, sich nicht wieder-
holendes Ballmuster, um Fehlbestückungen zu vermeiden.
Geben Sie Im Menü ’Bauelement testen’, Option ’Gehäusedimension’ für die Länge und die Breite des
Bauelements einen Wert < 32 mm x 32 mm ein.
5.8.3 Allgemeine Empfehlungen für die Zentrierung von Flip-Chips,
BGAs und Abschirmblechen
5.8.3.1 Parametereinstellung für den Ballkontrast
Wählen Sie im Menü ’Bauelement testen’, Option ’Ballabbildung’ einen höheren Wert, vermindert dies den
Einfluß von Störstrukturen. Andererseits werden dann vielleicht nicht alle Balls erkannt.
Durch Einstellung eines niedrigeren Wertes stellen Sie sicher, daß alle Balls erkannt werden. Die Abwurfrate
läßt sich dadurch verringern, doch erhöht sich die Meßzeit.
5.8.3.2 Parametereinstellung des Ballradius
Geben Sie den Ballradius am Linienrechner ein. Dieser Wert wird automatisch um 20 % reduziert, da Balls
vom Visionsystem auch erkannt werden, wenn ihre Abmessungen kleiner als ihre tatsächlichen physikali-
schen Abmessungen sind.
Stellen Sie dann am Stationsrechner den Ballradius ein und optimieren Sie die Qualität im Menü ’Messen’.
– Werden keine Kreuzchen am Ball dargestellt, ist der Radius falsch oder der Kontrast zu hoch.
– Werden mehrere Kreuzchen auf einem Ball dargestellt, so ist der Radius im Menü ’Messen’ falsch einge-
geben.
HINWEIS:
Wir empfehlen Ihnen, den Radius im Linienrechner etwas größer zu wählen als den theoretischen Wert und
ihn dann im Menü Ballabbildung zu optimieren.
5.8.3.3 Parametereinstellung der Gehäuseformabmessungen am Stationsrechner
Bei kontrastreichen Flip-Chips und BGAs können Sie die physikalische Gehäuseformabmessung auf das die
Balls umschreibende Rechteck reduzieren (Option ’Gehäusedimension’). Auf diese Weise läßt sich die Meß-
zeit reduzieren. Dies ist allerdings nur bei Einfachmessung anwendbar. Darüber hinaus muß der Sizemodus
aktiviert sein.