JM-10_使用说明书 - 第499页
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 4- 217 根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高 度与原来的值不同时，显示如下询问。 图 4-5-4-2-7 询问是否更新激光高度 图 4-5-4-2-8 询问是否更新芯片站立判定高度 ●是 ：用测量的 新数据覆盖原 来的设置值。 ●否 ：忽略新测 量值，使用原 来的设定值。
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d)
补正后引脚伸出量
仅限轴向元件才会显示此项。
设定吸取高度测量中轴向吸嘴吸取元件时，引脚从吸嘴前端伸出的长度。
设定结束后，单击单独检测的「检测」，进行单独测量。
② 正在进行单独检测的画面
在单独检测过程中，显示如下画面。显示正在进行单独检测的元件的内容及吸取位置，
并依次显示进行中的处理内容。
图 4-5-4-2-4 正在进行单独检测
要强行结束时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。
请选择是否结束检测。
图 4-5-4-2-5 测量结束的确认
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问测量后的元件是
放回、或是废弃。
图 4-5-4-2-6 确认是否放回元件
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根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时，显示如下询问。
图 4-5-4-2-7 询问是否更新激光高度
图 4-5-4-2-8 询问是否更新芯片站立判定高度
●是
：用测量的新数据覆盖原来的设置值。
●否
：忽略新测量值，使用原来的设定值。
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③ 单独检测结果
单独检测结束后，显示如下的结果画面。
图 4-5-4-2-9 单独检测结果
a) 检测完元件
显示元件内容及吸取位置。
b) 检测结果
显示检测结果的值。( )内显示原来的元件数据值。
未进行检测的项目显示***。
c) 确定(F8键)
使检测结果生效，将结果值储存到元件数据中。然后返回原来的单独检测条件的设置
画面。
d) 取消(ESC键)
使检测结果无效，然后返回原来的单独检测条件的设置画面。
e) 再检测 (F10键)
再次以相同的条件进行检测。
f) 变幻线
从激光单元取得测量(SWEEP)数据，以图表（变幻线）显示元件的轮廓。