JM-10_使用说明书 - 第625页

第 2 部 功能详解篇 第 7 章 手动控制 7- 17 3) Z 轴 微调 对所选 贴片头 的 Z 轴坐标进行控 制。 将吸取元件移动 到激光测 量高度时使用。 选中控制项目的 “ Z 轴微调” 时 , 选择 [ 上 (U) ] 按钮、 [ 下 (D)] 按钮、 [ LA 面 ( / )] 按钮或 按 [F3] 键、 [F4] 键、 [F5] 键进行控制。 4) 变幻线 下列“变换线图 (纹条图 )”, 是通过激光 单元测量 (SWE…

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3)控制项目
通过按钮选择控制项目。
7-4-1-3-4 控制项
4)窗口类型
按下按钮,选择测量时的窗口类型。
在控制项目中选择“测量(ONCE“测量(SWEEP以外的项目时,不能设置。
同时检测元件:设置的窗口尺寸范围,必须可容纳同时测量多个贴片头的元件。
(这些贴片头的吸嘴旋转中心±7.5mm
若要测量比该窗口尺寸更大的大型元件,请指定单独测量元件。
单独检测元件:设置的激光测量的窗口尺寸范围,必须可容纳最大尺寸的元件。
指定测量单独元件时,也使用其他贴片头的测量领域(窗口)因此,
他贴片头下降到激光的高度时,可能造成测量失败。测量前,务必检查,
确认其他贴片头没有降到激光测量的高度
(5) 控制按钮
用控制按钮来执行控制。
控制按钮的显示因控制项目而异。
在控制结束时更新状态显示。
1) 真空
控制所选贴片头真空的开/关。
选中控制项目的“真空”时,选择[(O)]按钮、[(F)]按钮、[/()]按钮或按
[F3]键、[F4]键、[F5]键进行控制。
2) Z 调整
对所选贴片头Z轴坐标进行控制。
吸嘴吸取元件等时使用。
选中控制项目的“Z轴调整”时,选择[(U)]按钮、[(D)]按钮、[/()]按钮
或按[F3]键、[F4]键、[F5]键进行控制。
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3) Z 微调
对所选贴片头Z轴坐标进行控制。
将吸取元件移动到激光测量高度时使用。
选中控制项目的Z轴微调”选择[(U)]按钮、[(D)]按钮、[LA()]按钮或
[F3]键、[F4]键、[F5]键进行控制。
4) 变幻线
下列“变换线图(纹条图)”,是通过激光
单元测量(SWEEP)取得的数据所显示的元件
轮廓图。
变换线可显示的元件为方形芯片、方形芯
LED)、圆筒形芯片、SOT
选中控制项目“变换线”时,可选择[执行
(E)]按钮,或按[F3]键控制。
7-4-1-3-5 变换线显示对话框
下面具体说明变换线有关情况。
7-4-1-3-2 变换线示例
变换线和激光高度
说明
激光高度适当。取得的元件形状正确。取得形状后激光
传感返回 SWEEP 识别结果。
元件上没有激光面,因得不到任何一个边界数据,无法描
绘变换线,画面呈黑色激光传感 SWEEP 败,返回信息
为无元件错误。
激光高度在元件下面附近时,激光面遮盖不全,有些边界
数据没有取得变换线形状变形,激光传感 SWEEP 识别失
败,返回错误信息。
激光高度在元件上面和吸嘴边界边缘时,同上面情况一
样,有的地方激光面遮盖不全,出现 SWEEP 失败。
激光高度只达到吸嘴尖端而未达到元件时,变换线显示出
吸嘴尖端的形状
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5) 测量(ONCE)
对所选的贴片头进行激光测量(ONCE)
ONCE具有获得当前传感器拍摄的阴影信息的功能。测量结果显示在“状态”中。
(参见图7-4-1-3-1)
在选中控制项目的“测量(ONCE)”状态下,选择[执行(E)]按钮、或按[F3]键、[F5]
键进行控制。
若是选择“LA()”按钮,会移动到该贴片头的前端(元件已被吸取时则在元件下
面)的高度。
6) 测量(SWEEP)
对所选择的贴片头进行激光测量(SWEEP)
SWEEP具有在检测区域内旋转对象物体计算出元件的吸取偏移、角度偏移尺寸的功
能。激光单元根据“元件形状”复选框指定的元件形状,对取得的数据进行分析,计
算所测量的结果
测量结果在状态中显示。(参见图7-4-1-3-1)
选中控制项目的“测量(SWEEP)”时,选择[执行(E)]按钮、或按[F3]进行控制。
若是选择LA (L)
”按钮,移动到该贴片头前端(元件已被吸取时则在元件下面
的高度。
7) 图像显示
显示所选贴片头的激光传感器的图像数据
请将贴片头或吸嘴移动到比激光面更上方的位置后再进行
在选中控制项目“图像显示”时,选择[执行(E)]按钮或按下[F3]键控制。
请确认激光水平值分布均匀。
若有急剧下降处,或数值极低的情况,可能是激光脏污,请清扫激光面。否则元件端
面遇到激光水平值下降位置时会导致定心不稳、激光识别错误。
7-4-1-3-6 图像显示例
激光水平值受光部接收从发光部发出的光的明亮度用数值 0()255()表示。因此,
有脏污等时水平值会下降
激光水平值