Holly操作手冊-Ver3.0-C3099 - 第28页
上海 赫 立 电 子 科 技 有 限 公司 在 线 型 自 动 光 学 检 测 仪 使 用 手册 第 2 7 页 共 6 4 页 注意 ： 关 于 “ 窗口 生 成 ” 检 测算法， 对 于 一 些具 有 几何 对称 性的 元 件 ， 例 如 片 式 电 阻 、 电 容、 电 感 、 IC （ 包含 单 边 引脚 连 接 器 、 双 边引脚 S OP 、 四边引脚 QFP ） 等元 件 ， 为 了 实现 快 速 制 作 对称 性 的 检…
上海赫立电子科技有限公司
在线型自动光学检测仪使用手册
第 26 页 共 64 页
取）、 侧 立（亮度投射最小跨度）、立碑（亮度抽取）、 反 贴 （ 亮度平均值）、 通 用（全板匹配剔除）、 通
用（片式元件定位）、 通 用（窗口生成）、 缺 锡 （ 亮度抽取）、 虚焊（亮度抽取）、 漏铜（颜色抽取）、 错
件 （ 亮度抽取）、 偏移（亮度极差/亮度投射最小跨度）等。
有些情况下，为了更好地确保检测出某种缺陷，可同时添加多个以该种缺陷名称命名的检测窗口，
并配以使用多种不同的检测算法。通过合理设置算法参数调节这些窗口之间的兼容和互补，即可以起到
保证检出率的效果，同时也可以起到降低误报率的效果。
以 R0402 为例，现在讲解具体的检测库制作方法和步骤：
步骤 1）： 鼠 标 左 键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧元件目录树内需要使用 R0402 检测库的元件所在目
录（例如，1005R 目录），“ 赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”
板块点击右侧的“检测库新建/选择/链接”按钮 ，在 随即 出现 的列表的上方点击“新建检测
库”按钮 ，在 弹 出的“新建检测库”对话框内输入期望的检测库的名称，例如：R0402。
（参见下图）
步骤 2）： 在 左 上 角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件（例如，R101），“ 图像”
板块将自动切换至相应的位置；鼠标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一
个检测窗口，在左下方“属性”板块“报错类型”列表选择“缺件”，“算法”列表选择“颜色
抽取 HSV”，并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设置，注意：一定要在
“图像”板块将该检测窗口大小框拖拽拉伸至合适的大小。
依次类推，分别完成侧立（亮度投射最小跨度）、立碑（亮度抽取）、 反 贴 （ 亮度平均值）、 通
用（全板匹配剔除）、 通 用（片式元件定位）、 通 用（窗口生
成）缺锡（亮度抽取）、 虚焊（亮度抽取）、 漏铜（颜色抽取）、
错 件 （ 亮度抽取）、 偏移（亮度极差/亮度投射最小跨度）等
检测窗口的新建和算法参数设
置，以及“图像源”选择和窗
口大小的拖拽等。
上海赫立电子科技有限公司
在线型自动光学检测仪使用手册
第 27 页 共 64 页
注意：关于“窗口生成”检测算法，对于一些具有几何对称性的元件，例如片式电阻、电容、
电感、IC（包含单边引脚连接器、双边引脚 SOP、四边引脚 QFP）等元件，为了实现快速制
作对称性的检测窗口、减少检测窗口的平铺数量、快速调试对称性检测窗口算法参数等目的，
请尽量使用“窗口生成”检测算法。
2-3-6. Bad Mark（拼板坏板标识）检测库的制作方法、步骤和工作原理
Bad Mark（拼板坏板标识）检测库主要用于自动屏蔽检测受检电路板任一拼板坏板（所谓拼板坏板
是指因板材自身来料不良而造成个别拼板报废，该报废拼板往往不贴装任何元件）。
对于一个检测程序来说，电路板有几块拼版就会有几个 Bad Mark。当 Bad Mark 检测窗口报错时，
则视其所在拼板为坏板，并且自动屏蔽检测该拼板；当 Bad Mark 检测窗口不报错时，则按正常状况检
测其所在拼板。注意：Bad Mark 拼板号必须与所在的拼板对应。
步骤 1）： 鼠 标 左 键 单 击 “ 赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元
件目录树内的 Bad Mark 点所在目录，在 随 即 出 现 的 右 下 方 目 录
属 性 “ 类 型 ” 下 拉 列 表 内 选择“Bad Mark”；（参见右图）
步骤 2）： 鼠 标 左 键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Bad Mark 点所在
目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库新
建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 BADMARK 点检测库的名称，例如：BADMARK。（参见下图）
步骤 3）： 在 左 上 角“ 元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件（例
如，BADMARK_0），“ 图像”板块将自动切换至相应的位置；鼠标左键
单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗口，在左
下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通用”，“算法”列表选择“颜
色抽取 HSV”，并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参
数设置。注意：当 PCB 上无专用的 Bad Mark
点时，一般选择最大的元件，
以防止真正的缺件造成 Bad
Mark 起作用，导 致整个拼板
都未检测。
上海赫立电子科技有限公司
在线型自动光学检测仪使用手册
第 28 页 共 64 页
2-3-7. SideMark（板面标识）检测库的制作方法、步骤和工作原理
SideMark（板面标识）检测库主要用于电路板检测 AB 面自动识别，即放入电路板 A 面将自动调入
A 程序检测，而放入电路板 B 面将自动调入 B 程序检测，无需人工手动调入程序。
要启用 AB 面自动识别功能，必须要依次打开两个检测程序，A 面程序及 B 面程序，A 程序检测到
B 面的图像必须报错，而 B 程序检测到 A 面的图像同样也必须报错。注意： AB 面都报错的话，将会
报标识错误。
步骤 1）： 鼠 标 左 键 单 击 “ 赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内
的元件目录树内的 Side Mark 点所在目录，在随即出现的
右下方目录属性“类型”下拉列表内选择“Side Mark”；
（参见右图）
步骤 2）： 鼠 标 左 键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Side Mark 点所
在目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库
新建/选择/链接”按钮 ，在随即 出现 的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 SIDEMARK 点检测库的名称，例如：SIDEMARK。（参见下图）
步骤 3）： 在 左 上 角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件
（例如，SIDEMARK_0），“ 图像”板块将自动切换至相应的位置；鼠
标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗
口，在左下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通用”，“算法”
列表选择“颜色抽取 HSV”，并同时进
行适当的“图像源”选择，以及适当的
算法参数设置，注
意：Side Mark 一
般选择在 AB 面基
板上有较大差异的
地方，例如找一个
坐标相同，A 面有
而 B 面没有的孔。