AOIGUI_ProgrammingManual_CHN - 第118页
K oh Y oung Technolo g y Inc. 118 在 AOIGUI 可定义各不良类型的检测 算法及封装类型。请查看确认封 装的实际尺寸和其他信息是否正确 输入。 按照以下步骤定义检测算法和封装类 型。 点击 AOI GUI 用户界面左上侧的选项选项卡。 在 PCB Viewer 上选择要定义的元件，或者在右上侧的封装编辑选 项卡选择要定义的元件。 确认尺寸与 封装 的实际尺寸是否相同。 当元件 没有封装 信息时，点击数…
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5. 检测条件设置
为了用AOIGUI执行3D检测，需要设置对各元件的检测条件。设置对各不良类型的封装尺寸和检测算
法，并将它保存在程式文件里，这个过程叫做Fine Tuning，可在AOI GUI上执行。
设置检测条件的程序可概述为以下5个步骤
步骤1: 定义检测算法&封装类型
在AOI GUI上，可定义各不良类型的检测算法及封装类型。同时要查看是否输入实际的封装尺寸。
步骤2: 对元件本体的预设置及检测条件设置
对元件本体的基本模式和检测位置可在AOI GUI的 PreSet选项卡上设置。在这个步骤也会生成各元件本
体不良类型的检测算法和允许公差。
步骤3: 对元件引脚的预设置及检测条件设置
对元件引脚的基本模式和检测位置可在AOI GUI PreSet选项卡上设置。在这个步骤也会生成各元件引脚
不良类型的检测算法和允许公差。
步骤4: 对Chips的检测条件(Solder fillet only)设置
设置各chip不良类型的检测算法和允许公差。
步骤5: 在不良视图上确认检测结果
设置并保存各不良类型的检测条件之后，在不良视图确认检测结果。请按元件确认检测结果。
※注: Alternative Part功能与Job Tag Set设置相关的说明可参照4.6 Alternaive Part及6.1.JobTag Set。
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在AOIGUI可定义各不良类型的检测算法及封装类型。请查看确认封装的实际尺寸和其他信息是否正确
输入。
按照以下步骤定义检测算法和封装类型。
点击AOI GUI用户界面左上侧的选项选项卡。
在PCB Viewer上选择要定义的元件，或者在右上侧的封装编辑选项卡选择要定义的元件。
确认尺寸与封装的实际尺寸是否相同。
当元件没有封装信息时，点击数据库管理器找出相关信息后适用。要生成新的封装尺寸或编辑
封装信息时，首先要在Create default Package窗编辑。
点击右上侧的检测条件选项卡。
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在检测算法目录中选择封装类型。
查看要检测的不良类型，勾选相应的复选框。
※注: 通常选择Capacitor和Resistor为Chips或Standards，其他元件选择Standards。