KE-2070_2080_InstructionManual_C_Rev01.pdf - 第479页
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序 4-176 ● 变更吸取坐标的方法 当用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可以使用HOD示教贴片坐标。 此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。 步骤1)将光标移动到X或Y坐标。 步骤2)按下HOD装置的键，进行坐标示教，然后按 ENTER 键进行确定。 图 4.5.4.2.3-2( b ) 正在示教 (3) 检测项目 选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测 量的项目。根据元件种类，可测量的…
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4-5-4-2-3 测量操作
1) 单独测量
只对选择的元件进行测量。
① 设置单独测量的条件
从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“单独”后，显示如下画面。
图 4.5.4.2.3-1 设置单独测量条件
(1) 被检元件
显示被检元件的内容。
(2) 吸取位置
显示吸取元件的吸取位置的内容。可改变前代替元件及下一替代元件的吸取位置。当没
有吸取数据时，不显示各项目，也不能进行吸取位置的变更、顶推送料器和示教。
● 送料器
顶推一下送料器，供给元件(32mm的纸带除外)。
● 将示教结果反映到吸取数据中
选择是否将使用HOD进行示教的结果反映到吸取数据中。不选择时，坐标仅适用于此次吸
取时。
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● 变更吸取坐标的方法
当用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可以使用HOD示教贴片坐标。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1)将光标移动到X或Y坐标。
步骤2)按下HOD装置的键，进行坐标示教，然后按ENTER键进行确定。
图 4.5.4.2.3-2(b) 正在示教
(3) 检测项目
选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测量的项目。根据元件种类，可测量的项目
有所不同。
（KE-2080在图像识别元件的情况下，可以测量CDS高度）
设定结束后，单击“检测”，进行单独测量。
图 4.5.4.2.3-2(a)
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② 正在进行单独测量的画面
在单独测量过程中，显示如下画面。显示正在进行单独测量的元件的内容及吸取位置，
并依次显示进行中的处理内容。
图 4.5.4.2.3-3 正在进行单独测量
要强行结束测量时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。请选择是、否。
图 4.5.4.2.3-4 测量结束的确认
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问测量后的元件是放
回、或是废弃。
图 4.5.4.2.3-5 确认是否放回元件