KE-2070_2080_InstructionManual_C_Rev01.pdf - 第480页
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序 4-177 ② 正在进行单独测量的画面 在单独测量过程中，显示如下画面。显示正在 进行单独测量的元件的内容及吸取位置， 并依次显示进行中的处理内容。 图 4.5.4.2.3-3 正在进行单独测量 要强行结束测量时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。请选择是、否。 图 4.5.4.2.3-4 测量结束的确认 因元件的包装方式而有 所不同， 当元件尺寸在1mm以下时， 会显示询问测量后的…
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序
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● 变更吸取坐标的方法
当用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可以使用HOD示教贴片坐标。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1)将光标移动到X或Y坐标。
步骤2)按下HOD装置的键，进行坐标示教，然后按ENTER键进行确定。
图 4.5.4.2.3-2(b) 正在示教
(3) 检测项目
选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测量的项目。根据元件种类，可测量的项目
有所不同。
（KE-2080在图像识别元件的情况下，可以测量CDS高度）
设定结束后，单击“检测”，进行单独测量。
图 4.5.4.2.3-2(a)
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② 正在进行单独测量的画面
在单独测量过程中，显示如下画面。显示正在进行单独测量的元件的内容及吸取位置，
并依次显示进行中的处理内容。
图 4.5.4.2.3-3 正在进行单独测量
要强行结束测量时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。请选择是、否。
图 4.5.4.2.3-4 测量结束的确认
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问测量后的元件是放
回、或是废弃。
图 4.5.4.2.3-5 确认是否放回元件
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根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时，显示如下询问。
图 4.5.4.2.3-6 询问是否更新激光高度
图 4.5.4.2.3-7 询问是否更新芯片站立判定高度
●是：用测量的新数据覆盖原来的设置值。
●否：忽略新测量值，使用原来的设定值。