KE-2070_2080_InstructionManual_C_Rev01.pdf - 第484页
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序 4-181 (3) 检测项目 选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测 量的项目。根据元件种类，可测量的项目 有所不同。 （在KE-2080上进行图像识别时可以测量CDS高度） (4) 连续测量按钮(<START>开关) 开始连续测量。 (5) 返回按钮( ESC 键) 返回原来的画面。 (6) 询问 开始连续测量后，显示询问，问测量后如何处理尺寸在1mm以下的元件。 图 4.5.4.2…
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序
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3) 连续测量
测量所有指定的元件。
① 设置连续测量条件
从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“连续检测”，显示如下画面。
图 4.5.4.2.3-9 设置连续测量条件
(1) 测量对象元件
设置对元件数据中有某一条件一致的元件进行测量。
● 全元件
测量所有的元件数据。
● 薄元件
仅测量元件高度在设定尺寸以下的元件。
● 指定元件类型
仅测量指定的元件类别。
● 指定吸嘴号
仅测量指定要使用的吸嘴元件。
● 激光定中心元件
仅测量进行激光定中心的元件。
● 外观定中心元件
仅测量进行外观定中心的元件。
(2) 测量范围
把被检元件的条件，设置为特定编号的元件。
● 开始元件号：选中开始的被检元件数据编号。
● 结束元件号：选中结束测量的被检元件数据编号。
● 只限贴片元件：只选中贴片数据指定的元件数据。
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序
4-181
(3) 检测项目
选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测量的项目。根据元件种类，可测量的项目
有所不同。
（在KE-2080上进行图像识别时可以测量CDS高度）
(4) 连续测量按钮(<START>开关)
开始连续测量。
(5) 返回按钮(ESC键)
返回原来的画面。
(6) 询问
开始连续测量后，显示询问，问测量后如何处理尺寸在1mm以下的元件。
图 4.5.4.2.3-10 询问元件放回画面
● 每次废弃
元件每次废弃在指定处。
● 每次返回
元件放回原来的位置。
● 每次询问
每次测量结束后，询问是否放回1mm以下的元件。
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② 正在连续检测的画面
连续检测过程中显示如下画面。显示连续加车的元件内容及吸取位置，依次显示处理内
容。
图 4.5.4.2.3-11 正在连续检测
(1) 进展状况
进度条显示当前的进展情况。
要强行结束测量时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。请选择是否结束。
图 4.5.4.2.3-12 询问是否结束测量