赫立AOI中文客户培训教材(2) - 第17页
版權所有： 2006 赫立國際控股有限公司 / 上海赫立電子科技有限公司
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Mark 定位 算法定义:
在检测窗口指定的区域内，通过亮度过滤及Mark点的形
状、大小设置来自动搜索并定位Mark点的中心位置，达
到将元件窗口位置和每块待测PCB实际图像更精确地进
行位置匹配的目的。
过滤效果
光源效果
设置mark合格范围，即绿色圆圈和mark
点重合的百分比，有时候因为mark氧化，亮
度会不稳定，导致绿圈中心并非mark中心，
如果不设置范围，所有坐标会认为mark OK，
坐标都会按绿圈移动相同的距离，不在测试
点上，导致误报很多
Mark 制作方法
1. 创建mark 料号 ，选择类型为mark（必须选），按住鼠标左键和ctrl拖动料号到
mark 图像位置，会出现一个绿框坐标，mark一般做对角 ，建立两个mark坐标
2. 选择算法：mark 定位，在搜索框内寻找一种光源（mark亮度明显和周边亮度
有明显差异），例如mark点亮度为0.8，mark周围亮度为0.1，我们需过滤掉0.1的亮
度，如右图过滤阈值0.405---1 , 符合这个区间的亮度会在我们的搜索框里呈现出白
色效果，绿色的跟踪圆圈会自动的搜索白色效果且符合形状尺寸的地方，若想准确
的找到mark点，我们必须过滤掉干扰我们的亮度
按住鼠标左键和ctrl拖动料
号到mark 图像位置