赫立AOI中文客户培训教材(2) - 第36页
电 阻缺件的差异你找了 吗 ? 需要你 对 算法的充分理解 找到一种光源如上 图 所示，当出 现 距离 的差异 时 ，使用算法亮度梯度双 边 距离（ mm ）， 设 置范 围 ，当元件缺件的 时 候，距离会 变 短， 设 置下限如下 图 如果缺件，两条 绿线 的距离是 0.20 0 less than 0.35 , 报 警：缺件 算法：亮度梯度双 边 距离（ mm ） 在“亮度梯度双 边 定位” 获 取的两条 边 界的基 础 上， 计 …
有时候我们定位本体的时候受部分干扰
可能导致窗口引脚的位置不在测试中心，
此时可通过亮度梯度双边定位重新搜索位
置精准定位，以致重新搜索到窗口中心
检测窗口偏移
回到中心
因本体定
位干扰可
能导致的
窗口随之
偏移
效果
算法：亮度梯度双边定位
在检测窗口指定的区域内，以及指定的范围内，在指定的方向（长或短方向），自动追踪获取指定方
式（亮到暗，或暗到亮）的最大明暗变化的两条边界。。用于更准确的找到测试点位置做的细致定位
选择长方向，短方向的效果
选择两种追踪模式的效果
使用双边定位重新
搜索引脚中心位置
准
确
偏
移
算法举例：桥连
选择一种黑白分明效果的光源，选择方
向和追踪模式找到自己想精准定位的位置
不要选“任意”
电阻缺件的差异你找了吗?
需要你对算法的充分理解
找到一种光源如上图所示，当出现距离
的差异时，使用算法亮度梯度双边距离（mm），
设置范围，当元件缺件的时候，距离会变短，
设置下限如下图
如果缺件，两条绿线的距离是0.200
less than 0.35, 报警：缺件
算法：亮度梯度双边距离（mm）
在“亮度梯度双边定位”获取的两条边界的基础上，计算出两条边界之间的距离
和双边定位的算法有点类似，这个算法是在双边定位的基础上计算出两条定位线的距
离设置上下限来测试不良缺陷
选择长方向，短方向的效果
选择两种追踪模式的效果
找到一种光源如上图所示，当出现距离的差
异时，使用算法亮度梯度双边距离（%），点击
检测图标,范围卡住分布区域，当元件缺件的
时候，百分比会发生变化，设置下限如下图
如果缺件，计算出的距离百分比是
25.08%<32.1%, 报警缺件
算法：亮度梯度双边距离（%）
在“亮度梯度双边定位”获取的两条边界的基础上，计算出两条边界之间的距离占检测
窗口自身长度的百分比
电阻缺件的差异你找了吗?
需要你对算法的充分理解