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Test Research Inc. TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 377 9) 再次點選屬性視窗內的影像，按下 [ 遮罩 ] 。 10) 進入遮罩視窗後，將紅色框移動到元件電阻代碼位置，調整大小後，按下 [ 內部遮罩 ] 。當綠色遮罩順利產生後，按下 [ 確定 ] 按鈕離開遮罩視窗。 11) 在比對條件視窗內，使用者可以依照需求來設定 [Missing] 框的比對參數條件。更改檢測參…

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8) 點選新增的待料影像，然後在權重視窗調整影像權重。(Rhase 1 代表 R，Phase 2

代表 G，而 Phase 3 代表 B。使用者可以直接輸入想要的數值或者拉動右邊的調

節桿，然後按下[確定]按鈕確認權重設定。)

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9) 再次點選屬性視窗內的影像，按下[遮罩]。

10) 進入遮罩視窗後，將紅色框移動到元件電阻代碼位置，調整大小後，按下[內部

遮罩]。當綠色遮罩順利產生後，按下[確定]按鈕離開遮罩視窗。

11) 在比對條件視窗內，使用者可以依照需求來設定[Missing]框的比對參數條件。更

改檢測參數的方式是，在參數欄位裡輸入想要的數值，然後按下[Apply]即可。詳

細的參數說明請參閱 4.10.2.1。

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12) 接下來進行元件電阻代碼的[Missing]框設定。與先前的[Missing]框一樣的方式，

選擇[Missing]框後，按下屬性視窗裡的[增加]按鈕，並且在權重視窗內調整適當

的影像權重，然後在比對條件視窗內設定參數。

13) 選擇爬錫區的其中一個[Void]框，在權重視窗內設定權重。

14) 在比對條件視窗內，設定[Void]框的檢測參數。詳細的參數說明請參閱 4.10.2.3。