TR7700_SII_Software_ch_v4-6 - 第413页
Test Research Inc. TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 399 要新增此檢測框需在 Train 模式下，把萬用框移動到所要量測區域後，按下左下方的 [ 新增板彎框 ] 功能才能增加；若要移除，按下 [ 移除板彎框 ] 。 4.10.2.10 Extra Blob 可用來檢測表面刮傷、髒污與 IC 翹腳。 [Train] 模式下的檢測參數設定畫面： Threshold low/ …
Test Research Inc.
398 TR7700 SII User Guide–Software
4.10.2.9 Warp
選擇 FOV 中一個較固定的標記，用來重新定位同一 FOV 內其他檢測框因板彎造成零
件之偏移。一個 FOV 內僅能設定一個 Warp 框。若檢測分數不足，僅表示此檢測框失
去其定位功能，並不會列為電路板上的缺陷。
假設板彎在一個 FOV 之變形量為相同的前提下，每顆元件和 Warp 有一相對的位移量。
因此，當板彎發生時該，在設有 Warp 框的 FOV 中，Warp 框會先定位並計算其偏移
量，再將其偏移量補償回各元件，再開始進行此 FOV 中元件的檢測動作。可選擇方法
一或方法二作為[Warp]框所使用的影像比對方式。
Test Research Inc.
TR7700 SII User Guide–Software 399
要新增此檢測框需在 Train 模式下，把萬用框移動到所要量測區域後，按下左下方的
[新增板彎框]功能才能增加；若要移除，按下[移除板彎框]。
4.10.2.10 Extra Blob
可用來檢測表面刮傷、髒污與 IC 翹腳。
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
Threshold low/ high：設定灰階門檻值範圍。使用者可以藉由調整圖層權重來提升
檢測效果。
Test Research Inc.
400 TR7700 SII User Guide–Software
low<level<=high, level>high, level<=low：設定檢測範圍（介於設定的灰界範圍
內、大於設定大於範圍上限，或者設定小於範圍下限。
Defect Pixel Count ：系統會將符合灰階門檻值設定範圍內的畫素(pixel)標示出來，
並將其中相鄰的畫素視為同一群組。使用者可以設定當群組畫素數量高過或者低於
多少才判定為缺陷。若填入數值為 10<=Defect Pixel Count<2500 表示，若檢測出的
的群組畫素數量介於 10~2500 時，才會判定為缺陷。
Principal axis aspect ratio>：若抓出群組的長寬比大於或小於所輸入的值的話才
視為缺點。若輸入 0 表示此項目不檢測。
change to <：勾選本選項時，[Principal axis aspect ratio]參數的定義會改為小於，
即群組的長寬比小於所輸入的值的話才視為缺點。
Defect Size(um)：設定判定為 Fail 的 Defect 長邊數值(um)。需搭配 DefectNumner
使用。
DefectNumber ：設定在設定 Defect Size 內的缺陷數量容許值。需搭配 Defect
Size(um) 使用。
Short-Side Size：將 Defect Size 群組計算由長邊改為短邊長度計算。
4.10.2.11 Edge Window
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：