KE-2000R_InstructionManual_C_Rev00说明 - 第193页
第 1 部 基本编 第 2 章 生产 2-92 2-10-6-3 激光高度检查 使用激光检查元件数据中设定的激光高度值。 1) 激光高度检查功能 激光高度检查中，有“连续检查”和“单独检查”2种模式。 单独模式可指定任意的或检测后的激光高度值。 表 2.10.6.3.1 检测模式内容与菜单 工具菜单 运行模式 运行内容 单独检查 对连续检查模式中出错的元件进行个别 检查。 激光高度检查 连续检查 检查生产程序数据内的所有元件/条件一致的…
第 1 部 基本编 第 2 章 生产
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强行中止检查时，请按停止按钮。显示如下信息。单击“是”，中断检查。
图 2.10.6.2.7 检查结束确认
检查结果为“‘OK’以外的错误时”,显示如下的确认。单击“是”，进入单独检查模式。
图 2.10.6.2.8 连续检查错误
指定的全部元件的检查结束后显示如下画面。
单击「确定」。
图 2.10.6.2.9 检查结束
第 1 部 基本编 第 2 章 生产
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2-10-6-3 激光高度检查
使用激光检查元件数据中设定的激光高度值。
1) 激光高度检查功能
激光高度检查中，有“连续检查”和“单独检查”2种模式。
单独模式可指定任意的或检测后的激光高度值。
表 2.10.6.3.1 检测模式内容与菜单
工具菜单 运行模式 运行内容
单独检查
对连续检查模式中出错的元件进行个别
检查。
激光高度检查
连续检查
检查生产程序数据内的所有元件/条件一致的
产品。通过单独模式，可以对在检查中因某种
原因而失败的元件进行个别检查。
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2) 各种动作
① 吸取中使用的贴片头
吸取贴片头为自动选择。
优先使用贴片头已经安装完成的吸嘴，以减少吸嘴的更换。根据吸嘴的安装情况，每次检
测时，贴片头有可能不同。
② 检查后的元件返还
检查后的元件将被放回原来的位置或被废弃。
如下(表2-10-6-3-2)所示，根据包装而有所不同。废弃场所应根据元件数据中的“元件废
弃”设定进行废弃。由于1mm以下的元件在返还时可能会出现元件站立、倒置等情况，因此
请根据确认来选择具体动作。
表 2.10.6.3.2 元件返还/废弃条件
包装 条件 1 条件 2 返还 废弃
32mm 送料器
－ ○
外形尺寸短边 1mm 以下 确认 *1
卷带
32mm 送料器以
外
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○ *2
外形尺寸短边 1mm 以下 确认 *1
散装 －
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○ *2
托架
○ ○ *2
MTC
○ ○ *2
MTS
○ ○ *2
杆式
－ ○
*1 将显示确认，请选择返还或废弃元件。连续检测时，将在开始前确认。
*2 当废弃方法为“IC回收传送带”“元件保护”时，进行废弃。
③ 吸取供应装置的选择
当同一元件有多个供应装置(吸取数据)时，初始值为从最初输入的数据开始吸取元件。也
可根据需要改变供应装置。
④ 更改吸取坐标
无法顺利吸取时，可用手动输入或使用HOD设备进行坐标示教，改变吸取坐标。
⑤ 手动吸取
当没有吸取数据时，可用手动将元件安装到吸嘴上。此时，不能输入吸取坐标。也不能操
作送料器。