KE-2000R_InstructionManual_C_Rev00说明 - 第477页

第1部 基本篇 第4章 生产程序制作 4-172 ② 元件高度检测功能 利用激光检测高度 。同时自动计算最适合的激光 高度及芯片站立判定值。检 测方式如 下。 表 4.5.4.2.2.1-2 元件高度检测方式 对象元件 方式 激光识别元件 图像识别元件 1.上下移动元件。 ↓ 2.将元件有阴影的范围作为高度尺寸。 ③ 元件真空压力检测功能 检测吸取元件时的真空压力。检测方式如下。 表 4.5.4.2.2.1-3 元件真空压力检测方式 对…

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第1部 基本篇 第4章 生产程序制作
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4-5-4-2-2 检测种类
各检测项目的功能概要如下表所示。
4.5.4.2.2-1 检测项目功能概要
检测项目 检测内容 备注
测量实际的元件外形尺寸
元件横方向
元件纵方向
自动计算最适合的吸嘴编号
元件尺寸(纵横)
吸嘴编号
吸取时的真空压力 测量实际的元件吸取时的真空压力
测量实际的元件高度
元件高度
自动计算最适合的激光定心值
激光高度
元件高度
芯片站立判定值
仅激光定心
测量实际的引脚尺寸
引脚间距
引脚长
引脚尺寸
引脚根数/欠缺信息
仅图像定心时。
1) 检测项目的各功能
元件尺寸检测功能
通过激光及图像识别装置进行元件纵横尺寸的检测。此外,同时自动计算最适合的吸嘴编
号。检测方式如下。
4.5.4.2.2.1-1 元件尺寸检测方式
对象元件 方式
激光识别元件
1.利用激光获得当前的元件角度
2. 将θ旋转到 0 度,以激光宽度作为横向尺寸
3. 将θ旋转到 90 度,以激光宽度作为纵向尺寸
图像识别元件
1.利用图像识别装置识别元件获取元件外形尺寸。
2.将响应后获得的值作为纵横尺寸。
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4-172
元件高度检测功能
利用激光检测高度。同时自动计算最适合的激光高度及芯片站立判定值。检测方式如
下。
4.5.4.2.2.1-2 元件高度检测方式
对象元件 方式
激光识别元件
图像识别元件
1.上下移动元件。
2.将元件有阴影的范围作为高度尺寸。
元件真空压力检测功能
检测吸取元件时的真空压力。检测方式如下。
4.5.4.2.2.1-3 元件真空压力检测方式
对象元件 方式
激光识别元件
图像识别元件
1.吸取元件,获得贴片头真空压力级别。
2.将获得的值作为贴片头真空级别。
引脚信息检测功能
利用图像识别装置进行引脚信息的检测。仅进行图像定心的元件可进行该检测。检测方式
如下。
4.5.4.2.2.1-4 引脚信息检测方式
对象元件 方式
图像识别元件
1.利用图像识别装置识别元件获取引脚信息。
2.将获得的值作为引脚尺寸。
第1部 基本篇 第4章 生产程序制作
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2) 元件种类所带来的检测项目限制
根据元件数据的元件种类,检测项目会受到下表所示的限制。
4.5.4.2.2.1-5 各元件种类的检测项目限制
检测项目
元件尺寸
No. 元件种类 定心方式
纵横 高度
吸取真空
压力
激光
高度
引脚
信息
方形芯片 激光
方形芯片(LED) 激光
圆筒形芯片 激光
铝电解电容
图像
SOT 激光
微调电容器
网络电阻
激光
SOP
图像 *1 *1
激光
HSOP
图像 *1
10 SOJ
图像
激光
11 QFP
图像 *1 *1
12 GaAsFET
图像
13 PLCC(QFJ)
图像
激光
14 PQFP(BQFP)
图像 *1 *1
激光
15 TSOP
图像 *1 *1
激光
16 TSOP2
图像 *1 *1
17 BGA
图像
18 FBGA 图像
19 QFN
20 外形识别元件 图像
21 通用图像元件 图像
激光 *2
22 单向引脚连接器
图像 *1, *2
激光 *2
23 双向引脚连接器
图像 *1 *1, *2
24 Z 引脚连接器
图像
25 扩展引脚连接器 图像
26 J 引脚连接器
图像
27 鸥翼形插座
图像
28 带减震器的插座
图像
29 其他元件
*1 仅为每1列引脚在7根以上的元件。(可检测SOP 14Pin)
*2 由相同引脚形状构成,且引脚两端没有臂、金属零件的元件。
○:可以检测。 △:可使用将定心方式设定为“图像”后获得的检测结果。
KE-2050R不能采用图像定心方式检测,且不能使用 △:中所示的“检测结果”。
根据被检测元件的引脚条件,引脚信息有可能无法检测。
检测功能以元件外形尺寸在50mm以下的元件为对象。