KE-2000R_InstructionManual_C_Rev00说明 - 第480页
第1部 基本篇 第4章 生产程序制作 4-175 4-5-4-2-3 检测的操作 1) 单独检测 仅检测被选择的元件。 ① 单独检测条件的设定 从菜单栏中选择“机器操作”/“检测”/“单独” ，显示如下画面。 图 4.5.4.2.3-1 单独检测条件的设定 (1) 所检测的元件 显示所检测元件的内容。 (2) 所检测元件的吸取位置 显示吸取元件的吸取位置的内容。 可改变前一替代元件及下一替代元件的吸取位置。 当没 有吸取数据时，不显示各…
第1部 基本篇 第4章 生产程序制作
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3) 关于进行检测时的各动作
① 用于吸取的贴片头
可自动选择用于吸取的贴片头。使用贴片头时,优先使用已经安装完成的吸嘴，以减少吸
嘴的更换次数。根据吸嘴的安装情况，每次检测时，进行吸取的贴片头有可能不同。
② 检测后的元件返还
检测后的元件将被放回原来的位置或被废弃。如下表所示，具体因包装方式而异。废弃时，
根据元件数据中“元件废弃”的设定，将元件废弃到指定的地点。此外，当废弃方法设定
为“IC回收带”、“元件保护”时，根据设定进行废弃。
对于1mm以下的元件，在返还时有可能会出现元件直立或元件倒置，请根据确认来选择动
作。
表 4.5.4.2.2.1-6 元件返还/废弃条件
包装方式 条件 1 条件 2 返还 废弃
32mm 送料器 － ○
外形尺寸短边 1mm 以下 确认*1
带状
以外
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○*2
外形尺寸短边 1mm 以下 确认*1
散装
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○*2
托架 ○ ○*2
MTC ○ ○*2
MTS ○ ○*2
管状 － ○
*1 显示信息，选择是将元件返还还是废弃。连续检测时，在开始前进行确认。
*2 当废弃方法为“IC 回收传送带”“元件保护”时，进行废弃。
③ 选择用于吸取的供给装置
如果同一元件有多个供给装置(吸取数据)，初始值时，从最初输入的数据中吸取元件。仅
单独检测可根据需要改变供给装置。
④ 改变吸取坐标
无法顺利吸取时，可用手动输入或使用HOD设备进行坐标示教，改变吸取坐标。
⑤ 手动吸取
当没有吸取数据时，可用手动将元件安装到吸嘴上。此时，不能输入吸取坐标。也不能操
作送料器。
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4-5-4-2-3 检测的操作
1) 单独检测
仅检测被选择的元件。
① 单独检测条件的设定
从菜单栏中选择“机器操作”/“检测”/“单独”，显示如下画面。
图 4.5.4.2.3-1 单独检测条件的设定
(1) 所检测的元件
显示所检测元件的内容。
(2) 所检测元件的吸取位置
显示吸取元件的吸取位置的内容。可改变前一替代元件及下一替代元件的吸取位置。当没
有吸取数据时，不显示各项目，也不能进行吸取位置的变更、送料器敲打和示教。
● 送料器
敲打一下送料器，搬出元件(32mm的纸带除外)。
● 将示教结果反映在吸取数据中
选择是否将使用HOD进行示教的结果反映在吸取数据中。不选择时，坐标仅适用于此次吸
取时。
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● 吸取坐标的变更方法
当用于检测的元件的吸取位置与实际有差异时，可以使用HOD示教贴片坐标。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1)将光标移动到X或Y坐标。
步骤2)按下HOD装置的按钮，进行坐标示教，然后按ENTER键进行确定。
图 4.5.4.2.3-2(b) 正在示教
(3) 检测项目
选择需要检测的项目。默认值为选择所有可检测的项目。根据元件种类，可检测的项目有
所不同。
设定结束后，单击“单独检测”，进行单独检测。
图 4.5.4.2.3-2(a)