KE-2000R_InstructionManual_C_Rev00说明 - 第810页
第2部 功能详细篇 第1 2章 选项元件 12-24 12-9-2 共面性检查内容 12-9-2-1 共线性检查 检查有引脚的边的“上下方向的弯曲”。 ◇ 该检查用“一次扫描”进行。 例如，用一次扫描来检查“QFP等的4边元件为4边”，“SOP等的2边元件为2边”的各边。 图 12-9-2-1 元件检查的说明 12-9-2-2 共面性检查 求出共面的方法有两种。 QFP/SOP可用EIAJ规定的方法或最小平方法求出共面(端子最下面的均匀…
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
12-23
12-9 共面性处理
12-9-1 功能概要
本设备利用扫描型激光变位仪来检测电子元件共面性的装置。
扫描型激光变位仪是用受光镜将照射到测量对象的光斑所反射、散射的光进行聚光，通过在
位置传感器上制作光斑图像，以非接触方式测量变位的仪器。
以一定的速度沿激光扫描方向(X方向)和直行方向(Y方向)移动被测量元件，进行元件的3维形
状测量，得出由各像素组成的高度信息的距离图像。
◇ 本装置根据贴片机预先发送的元件信息，利用得出的距离图像来判断元件的优劣(电极的高度
检查)。
共面性传感器
VCS 装置
图 12-9-1-1 功能概要图
多棱镜
激光束
图 12-9-1-2 装置外观图
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
12-24
12-9-2 共面性检查内容
12-9-2-1 共线性检查
检查有引脚的边的“上下方向的弯曲”。
◇ 该检查用“一次扫描”进行。
例如，用一次扫描来检查“QFP等的4边元件为4边”，“SOP等的2边元件为2边”的各边。
图 12-9-2-1 元件检查的说明
12-9-2-2 共面性检查
求出共面的方法有两种。
QFP/SOP可用EIAJ规定的方法或最小平方法求出共面(端子最下面的均匀性)。
■ 出厂时的设置为 EIAJ 规定的方法。
可按机器设置进行设置变更。(参照机器设置的“8-4-10-11章”)
◇ QFP 用 EIAJED-7401-4，SOP 用 EIAJED-7304-1 或最小平方法。
◇ 球元件用 EIAJED-7304。
◇ EIAJ 规定的方法，从假定平面到所有端子的最下点，其铅垂方向距离的偏差中，到最偏离的
端子最下点的距离为共面的值。
计量基准线
引脚下方向弯曲
检查元件
L
共线性即平行性。
共线性只能适用于引脚元件。
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
12-25
◆ 以 3 点法求出引脚元件的共面性(EIAJ 规定的方法：默认)
在通过任意3根端子最下点的几何平面中，其他端子的最下点全部在组件主体侧，组件重心在
该3点所构成的三角形内部或边上的平面。但不受自身重量的影响。
如满足上述条件的组合有多个，则采用共面值大的组合。
图 12-9-2-2 用 3 点法计算出共面
◆ 以最小◇平方法求出引脚元件的共面性
最小平方法：根据所有端子最下点用最小平方法所求出的平面，其与组件主体侧最远端子的
最下点所连成的平面相对，到最远端子的距离定为共面性。
图 12-9-2-3 用最小平方法求出共面性
◆ 以最小平方法求出球元件的共面性(EIAJ 规定的方法)
从所有球顶点用最小平方法求出的平面，其与组件主体最远的球顶点所连成的平面相对，到
最远的球的距离定为共面。
Α
根据最下方的点求出的平面
用最小平方法求得的平面性