Brochure-K3D-Series_ALL_Rev06-2017-12

Die 3DAOI Lösung für anspruchsvolle Anwendungen Reales Bild K-System

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Die 3DAOI Lösung für
anspruchsvolle
Anwendungen
Reales Bild K-System
Erweiterung der
Fehlerabdeckungsgrenzen mit einer
leistungsstarken 3DAOI Technologie
Lifted lead
Brücken Tombstone
Hochauflösende Kamera mit 100%
telezentrischem Objektiv
Hochwertiges RGB-Bild für die Inspektion,
Portabilität und Überprüfung
Hochleistungsfähiger 3D-Sensor
Vertikaler Laserstrahl zur Vermeidung von
Schatteneffekten
2 x Hochgeschwindigkeitskameras für die
Datenaufnahme aus zwei Winkelansichten
Optimierter Winkel zur Minimierung des
intrinsischen Schatteneffekts
Adaptive Höhenfilterung zur Anpassung
der Empfindlichkeit des 3D-Sensors an die
Bauteilgeometrie
Hochpräzises Achsensteuerungssystem
3 x Linearmotoren für präzise
Hochgeschwindigkeitsbewegung
Optische Encoder mit 0,5 μm Auflösung für
genaue Positionierung
Vollständige Fehlerabdeckung
Pinhöhen Messung
Koplanarität
Tombstone
Umfassende
Fehlerabdeckung
Bauteilbezogen
Fehlendes Bauteil
Versatz (X, Y, Z, θ)
Tombstone
Polarität
Koplanarität
Bauteil auf dem Rücken
Zeichenerkennung/-
verifizierung (OCR/OCV)
Lötstellenbezogen
Nicht verlötet, Lotüberschuss
Brückenbildung
Lifted lead
Head-in-pillow
Messtechnik
Vollständige Messfähigkeit (X,
Y, Z, θ)
Fremdmaterial
Die Wahl der Branchenführer
Verfügbarkeit > 99,5%
Minimale Fehlalarmrate /
-schlupf bis zu 50 ppm unter
Produktionsbedingungen
X, Y GRR << 4% bei 01005
Inspektionsgeschwindigkeit bis
zu 100 cm
2
/s
Schnelle Programmierung
Kompatibel mit vorhandenen
Bibliotheken der K-Serie
Dauerhaft stabile Leistung durch
LibraryPro
Programmportabilität von
Maschine zu Maschine
GPU basierte Datenbearbeitung
100% offline Programmierung
und Finetunig
Hochpräzises optisches
Messsystem
Abschattungsfreier 3D-sensor
12 Bit 8 M Pixel CCD-camera
Telezentrisches objektiv
LED-Beleuchtung mit
holographischem Diffusor
Hochpräzise Linearmotoren
mit optischen Enkodern:
Wiederholgenauigkeit von 1 µm
X, Y Auflösung 4.75µm (sub-
pixel Technologie)
konstante Z-Auflösung von 1
µm über 20mm Z-Bereich
+/- 5mm
Biegungskompensierung bei
gleichbleibender Z Genauigkeit
Vektorale Musterfindung
Inspektionsumfang Leistung Genauigkeit
Reales Bild K-System