TR7100_Repair-Station_Manual(V8.5_Ch) - 第125页
單元 三 、 S PC 使 用手冊 AO I R e p a i r S t a t i on 使 用 手冊 121 − − = − = ⇒ ⇒ = = = − = + = + + + = + + + = − = + + + = ⇒ ⇒ ⇒ σ σ σ σ ˆ 3 , ˆ 3 min ˆ 6 ˆ ) ( ) ( ) , , , mi n( ) , , , m a x( ) ( , , , 2 3 4 2 …
單元三、SPC 使用手冊
AOI Repair Station 使用手冊
120
為元件或錫點的體積。根據樣本大小的不同，而所呈現的
欄位數量不同，若樣本大小為「5」，則會呈現為「X1」、
「X2」、「X3」、「X4」與「X5」。
n average：平均值，就是將 X1、X2…Xn 內的數值相加後，
除以樣本大小，舉例來說，若樣本大小為「5」，則該欄位
的值就為（X1+X2+X3+X4+X5）/5
n R：全距，就是將 X1、X2…Xn 內最大的數值減去 X1、
X2…Xn 內最小的數值
n Ca：製程準確度，其計算方式如下所示：
Ca=((X bar-規格中心值)/(規格公差)/2)*100%
規格公差=規格上限-規格下限
n Cp：製程精密度（計算方式請參見下方的相關公式）
n Cpk：製程能力指標（計算方式請參見下方的相關公式）
n X-UCL：X-bar 管制上限值（計算方式請參見下方的相關
公式）
n X-Standard：X-bar 管制中心線值
n X-LCL：X-bar 管制下限值（計算方式請參見下方的相關
公式）
n R-UCL：R chart 管制上限值（計算方式請參見下方的相關
公式）
n R-Standard：R chart 管制中心線值
n R-LCL：R chart 管制下限值（計算方式請參見下方的相關
公式）
n 相關公式
單元三、SPC 使用手冊
AOI Repair Station 使用手冊
121
−−
=
−
=
⇒
⇒
=
=
=
−=
+=
+++
=
+++
=
−=
+++
=
⇒
⇒
⇒
σσ
σ
σ
ˆ
3
,
ˆ
3
min
ˆ
6
ˆ
)(
)(
),,,min(),,,max(
)(
,,,
2
3
4
2
2
21
21
2121
21
21
XUSLLSLX
C
LSLUSL
C
下規格界線
LSL
上規格界線
USL
d
R
RDLCL
下管制界線
RDUCL
上管制界線
ChartR
RAXLCL
下管制界線
RAXUCL
上管制界線
ChartX
k
RRR
R
k
XXX
X
XXXXXXR
n
XXX
X
子集合的個數
k
子集合的抽樣樣本
XXX
子集合的大小
n
pk
p
R
R
X
X
n
k
nn
n
n
Λ
Λ
ΛΛ
Λ
Λ
Ø P 管制圖：若監控項目使用了 P 管制圖的話，則所顯示相關的
統計資料，如下圖所示。
Ø 現在就針對統計資料中的每一個欄位進行說明如下：
n Defect Count：測試為不良的總數。
單元三、SPC 使用手冊
AOI Repair Station 使用手冊
122
n Defect Rate：不良率，其計算方式如下所示：
Defect Rate=Defect Count/Subgroup Size
n Subgroup Size：樣本大小
n UCL：P 管制上限值（計算方式請參見下方的相關公式）
n Standard：P 管制中心線值（計算方式請參見下方的相關公
式）
n LCL：P 管制下限值（計算方式請參見下方的相關公式）
n 相關公式
P
管制中心線
n
PP
PLCL
下管制界線
n
PP
PUCL
上管制界線
m
p
P
各組中不良品的比率
p
各組抽樣個數
m
組數
n
m
i
i
i
)1(
3
)1(
3
1
−
−=
−
+=
=
⇒
⇒
⇒
∑
=