IM7585A982-01.pdf - 第170页
161 确认接触不良、连接状态 （接触检查功能） 7 应用功能 7.1 确认接触不良、连接状态 （接触检查功能） 确认接触不良或连接状态。 是 2 端子测量时用于检测各端子与测试物之间接触不良的功能。 判定结果分别显示为 BEFORE 、 AFTER 。 HI 测量值 > 上限值 IN 上限值 ≧ 测量值 ≧ 下限值 LO 测量值 < 下限值 - - - 未设置判定基准时 7.1.1 进行 DC 测量设置 为了确认 L 测量…
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错误判定时，停止测量
6.5 错误判定时，停止测量
连续测量期间发生错误判定时，选择停止测量或继续进行测量。
如果已设置面板的判定功能满足下述条件，则停止测量。
LCR模式 分析仪模式
•
比较器或分类有效
•
判定结果为
NG(HI/LO/OUT)时
•
区域判定或峰值判定有效
•
判定结果为
NG(HI/LO/OUT)时
1
2
5
4
3
请参照“画面显示的点亮 /熄灭设置”（第
173页）
1
按下 [SETUP]
2
按下 [COMMON]标签
3
按下 [ERR ABORT]
4
选择 OFF/ON
[OFF]
与判定结果无关，对所有的面板进行连续测
量。
[ON] 判定结果为 NG时，停止连续测量
5
按下 [EXIT]
在接触检查功能设置中，下述 4 个条件重叠时，停止测量，而与上述设置无关。
请参照“7.1 确认接触不良、连接状态（接触检查功能）”（第 161页）
•
将接触检查时序设为
[BEFORE]或 [BOTH]时
•
进行
LIMIT设置时
•
ERR ABORT被设为 ON时
•
按
BEFORE的时序进行 LIMIT判定，发生错误时
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确认接触不良、连接状态（接触检查功能）
7
应用功能
7.1 确认接触不良、连接状态（接触检查功能）
确认接触不良或连接状态。
是 2 端子测量时用于检测各端子与测试物之间接触不良的功能。
判定结果分别显示为 BEFORE、AFTER。
HI
测量值 > 上限值
IN
上限值 ≧ 测量值 ≧ 下限值
LO
测量值 < 下限值
- - -
未设置判定基准时
7.1.1 进行 DC测量设置
为了确认 L 测量时的接触检查，进行 DC测量。
设置检测时序
1
2
4
3
5
测量时间因测量条件而异。
“(3) 测量时间”（第 263 页）参照
1
按下 [SETUP]
2
（LCR模式）按下 [CONTACT]标签
（分析仪模式）按下 [SWEEP]标签
3
按下 [TIMING]
4
选择接触检查的时序
[OFF] 将接触检查功能设为无效。
[BEFORE]
测量测试物之前进行接触检查。
[AFTER] 测量测试物之后进行接触检查。
[BOTH] 测量测试物前后进行接触检查。
5
按下 [EXIT]，关闭设置画面
应用功能
7
应用功能