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166 确认接触不良、连接状态 （接触检查功能） 7.1.3 检测 2 端子测量时的 OPEN （ Hi Z 筛选功能） 是指 测 量 结果 相 对 于设 置 的 判定 基 准 较高 时， 作为 测 量 端子 接 触 错误 进 行 错误 输 出 的功 能。 错误 由 测量画面与 EXT I/O 进行输出。测量画面上输出 Hi Z 。如果测量值超出设置值，则会发生错误。 请参照 “ 8 外部控制 ” （第 185 页） 1 2 3 1 按…
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确认接触不良、连接状态（接触检查功能）
7.1.3 检测 2端子测量时的 OPEN（Hi Z筛选功能）
是指测量结果相对于设置的判定基准较高时，作为测量端子接触错误进行错误输出的功能。错误由
测量画面与 EXT I/O 进行输出。测量画面上输出
Hi Z。如果测量值超出设置值，则会发生错误。
请参照“8 外部控制”（第 185页）
1
2
3
1
按下 [SETUP]
2
（LCR模式）按下 [CONTACT]标签
（分析仪模式）按下 [SWEEP]标签
3
按下 [Hi Z]
4 5
4
按下 [Hi Z]
5
选择 Hi Z筛选功能的 ON/OFF
[OFF]
将 Hi Z筛选功能设为无效。
[ON]
将 Hi Z筛选功能设为有效。
6
7
可进行数字键输入。
6
利用
/
设置判定基准值
（利用数字键输入时，按下
[SET]）
可设置范围
1
Ω
～ 10000
Ω
[C]
设为初始值。
（被设为
10000
Ω
）
7
按下 [EXIT]，关闭设置画面