IM7585A982-01.pdf - 第276页
267 功能规格 点比较器 最多 16 点 （选择任意扫描点、参数） COMP/ 分类模式 COMP 模式 ： 单独判定 分类模式 ： 在条件一致之前始终进行判定 判定方法 ： STD/REV/ALL ST AND ARD: 在判定设置条件以内时，设为 IN 判定 REVERSE: 不在判定设置条件以外时，设为 IN 判定 ALL: 始终设为 IN 判定 设置方法 ： ABS/PER/DEV/MEAS_PER/MEAS_DEV ABS …
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功能规格
(2) 分析仪功能
扫描测量、等效电路分析
扫描测量 频率、电平 (dBm、V、I)
时间间隔测量 间隔 0.00000 s ～ 1000.00 s 最多 801点
扫描点
1 ～ 801点
扫描方法
1. 通常扫描 最多 801 点
设置方法 ：
START-STOP/ CENTER-SPAN/ START-STEP/ INTERVAL/ CUSTOM
2.
分段扫描 最多 20个分段（总共801点）
设置方法 ：
START-STOP/INTERVAL
次要参数 ：频率、电平、速度、平均、扫描点延时
测量项目（
4项） Z（阻抗）、Y（导纳）、
θ
（相位角）、Rs（等效串联电阻 ESR）、
Rp（等效并联电阻）、X（电抗）、G（电导）、B（电纳）、
Ls（等效串联电感）、Lp（等效并联电感）、Cs（等效串联电容）、
Cp（等效并联电容）、Q（Q因数）、D（损耗系数 tan
δ
）、
V（监视电压）、I（监视电流）
触发 按序、重复、
step
平均
1. 方式 相加平均
2. 设置范围 1 ～ 256（1步幅）
触发延迟
0.00000 s ～ 9.99999 s（分辨率 ：10 µs）
触发同步输出 仅在模拟测量期间施加测量信号
稳定用等待时间设置 ：
0.00000 s ～ 9.99999 s（分辨率 ：10 µs）
INDEX信号延迟时间设置 ：0.00000 s ～ 0.10000 s（分辨率 ：10 µs）
测量值显示 列表显示 ：数值显示
图形显示
：
1画面、4画面
X-Y图形显示 ：1 画面、2画面（对应Cole-Cole 图形、导纳圆显示）
判定结果显示 ：判定结果的详细显示
重叠描图功能 带有重叠描图开始时序控制、清除功能
图形的转换比
1. 线性/对数转换比显示
可实施纵轴、横轴的转换比
2. 自动转换比
可切换自动、手动
波形颜色 可从
25种颜色中选择
区域比较器
4参数
扫描范围全体的
Hi/IN/Lo判定
带有基于合格数据的判定条件设置功能
上下限设置范围 ：
-9.99999 G ～ +9.99999 G
峰值比较器 4参数
极值的范围判定（极大值、极小值）
上下限设置范围
：
-9.99999 G ～ +9.99999 G
范围设置 ：整个频率范围（频率扫描时）、整个电平范围（电平扫描时）
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功能规格
点比较器 最多 16点（选择任意扫描点、参数）
COMP/分类模式
COMP模式 ： 单独判定
分类模式 ： 在条件一致之前始终进行判定
判定方法 ：
STD/REV/ALL
STANDARD:
在判定设置条件以内时，设为 IN判定
REVERSE: 不在判定设置条件以外时，设为IN 判定
ALL: 始终设为 IN 判定
设置方法 ：
ABS/PER/DEV/MEAS_PER/MEAS_DEV
ABS
： 上下限值
PER ： 相对于基准值的 ±%
DEV
： 相对于基准值的 ± 值
MEAS_PER ： 相对于测量值的±%
MEAS_DEV
： 相对于测量值的 ± 值
设置范围
-9.99999 G ～ +9.99999 G
-999.999%
～ +999.999%
判定结果
COMP模式 ： 综合判定 IN/OUT（I/O 为 AND）
单独判定
IN/OUT（I/O为 IN）
分类模式 ： BIN1 ～ BIN16、OUTOFBINS
光标功能 读取图形画面中的测量值
A、B轨迹光标（2个）
搜索功能
（同时
2种）
最大值、最小值、目标（有斜率指定）
、极大值、极小值
带有测量之后的自动搜索功能
等效电路分析
1. 电路模式
电路元件部件的等效电路模式
3元件模式 ：4 种、4元件模式 ：1 种
请参照“
4.9 等效电路分析功能”（第 118 页）
2. 电路模式的选择方法
AUTO（自动选择）、HOLD（固定）
3. 测量项目
3元件模式
L1（电感）、C1（电容）、R1（电阻）、Qm（共振烈度）、实测值与理想频率特性的残差
平方
4元件模式
L1（电感）、C1（电容）、R1（电阻）、C0（并联电容）、Qm（共振烈度（机械品质系数））、
K（电气机械耦合系数）、实测值与理想频率特性的残差平方
4. 等效电路分析的执行
AUTO（频率扫描结束之后执行）、MANU（手动执行）
5. 等效电路分析使用的扫描范围的限制
通常扫描 ： 在分析开始频率～分析结束频率的扫描范围内进行分析
分段扫描 ： 在已设置的分段
No. 的扫描范围内进行分析
6. 比较器
针对分析结果实施比较
L1、C1、R1、C0、Qm: HI/IN/LO、绝对值设置
7. 共振频率
可通过通讯获取下述测量项目测量值为极大或极小的频率（共振频率或反共振频率）
Z（阻抗）、G（电导）、B（电纳）、Rs（等效串联电阻）
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规格
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功能规格
(3) 连续测量功能
以保存的测量条件进行连续测量
最大数 最多 46组
LCR模式 ：最多 30组
分析仪模式 ：最多
16组
也可以进行
LCR模式与分析仪模式混合的连续测量
EXT I/O EXT I/O的判定结果包括综合判定结果输出与多种模式输出
(4) 功能
接触检查 1. 2端子的接触检查（DCR测量）
检测
High-Low之间的接触（接触状态）
可通过输入
DCR值的上下限值进行判定
带有判定发生
FAIL时，停止此后测量的功能
可变更检测时序
BEFORE ：测量之前进行接触检查
AFTER ：测量之后进行接触检查
BOTH ：测量前后进行接触检查
测量
a. 范围 0.1
Ω
～ 100
Ω
b. 精度保证温湿度范围 ：0
°C
～
40
°C
、
80% RH以下（没有结露）
但应处在校正时的温度的 ±
5
°C
以内
校正温度范围 ： 依据校正套件的使用温度范围
精度保证期间 ：
1年
（每天测量之前都应实施开路
/短路 / 负载校正）
预热时间 ：
60分钟以上
校正面 ： 安装在测试头的
3.5 mm端子上的适配器
(3.5 mm-7 mm) 的 7 mm 端子面（使用校正套件执行开路 /短路 / 负
载校正之后）
校正套件 ： 使用下述规格同等产品时
LOAD ： 50
Ω
±0.5%
OPEN
： 100 k
Ω
以上
SHORT ： 10 m
Ω
以下
精度 ：
±+ +
×
1
005
10000
100
.
Rdut
Rdut
[%]
（规定为波形数 128，Rdut ：DC电阻测量值 单位 [
Ω
]）
测量信号
1 mA以下
波形数 ：
1 ～ 9999
等待时间
DC测量前的等待时间 ：0 s ～ 9.99999 s（分辨率 ： 10 µs）
AC测量前的等待时间 ：0 s ～ 9.99999 s（分辨率 ： 10 µs）
带有
AC信号重叠功能
IM7581的测量频率为 100 kHz ～ 999.99 kHz 时，AC 信号重叠变为
[OFF] 状态，而与设
置无关
2. Hi-Z筛选功能（检测 2端子测量时的 OPEN 状态）
测量值高于判定基准时，作为接触错误进行错误输出
判定基准 ：可在 1
Ω
～ 10 k
Ω
（1
Ω
分辨率）的范围内进行设置
错误输出 ：通过 EXT I/O 进行错误输出