TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第225页
Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 211 3.7.11 線上元件分析 使用此功能可以自動收集元件檢測的資訊，並可以直接在 AOI 機器上 查看結果。 3.7.11. 1 啟動 Cpk 資料收集 (Enabl e Cpk Dat a Collec tion) 選擇 [ 工具 ]>[ 啟動 Cpk 資料收集 ] ，會出現以下設定視窗。 X- Shift…
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• [Apply Weighting]：將目前設定的權重套用到這個定位標記的檢測上。
3. 若要重新設定第二標記點的搜尋範圍：
1) 按下[設定標記(1) 搜尋範圍]按鈕。
2) 接續的步驟如同重新設定第一標記點的搜尋範圍的步驟(2)~(4)。
相似度：設定定位標記的敏感度。若設定為 40 分，表示在搜尋範圍內找到與標準影
像進行影像比對後，分數超過 40 分的物件即認為其為對位標記。
Enable fiducial search scaling：
Enable bright fidicial selection：
3.7.8
重置 X Y TABLE
選擇此選項後，攝影機將移動至機台 X-Y table 的原點位置(右上角)。
3.7.9
取出電路板
選擇此選項後，可將電路板送至出板口。
3.7.10
電路板定位測試
選擇此選項後，可以設定電路板不出板檢測次數。再選擇一次該選項可以取消。
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TR7700 SII DL User Guide–Software 211
3.7.11
線上元件分析
使用此功能可以自動收集元件檢測的資訊，並可以直接在 AOI 機器上查看結果。
3.7.11.1 啟動 Cpk 資料收集(Enable Cpk Data Collection)
選擇[工具]>[啟動 Cpk 資料收集]，會出現以下設定視窗。
X-Shift、Y-shift、Theta
：分別代表各元件的水平位移、垂直位移、偏移角度。
高、低
：設定位移值的上限線。位於此範圍內的檢測結果才列入 Cpk 計算。
USL
：計算 Cpk 公式所需的規格上限
LSL
：計算 Cpk 公式所需的規格下限
CpkSpec
：可自訂所計算出的 Cpk 容許值，高於此值可視為正常，低於此值視為異常。
• 無：不自動輸出
• 檢測時間：依照檢測時間自動輸出(單位：小時)
• 檢測次數：依照檢測次數自動輸出
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3.7.11.2 Cpk 資料報告
可以檢視先前收集的[Cpk 資料報告]。使用此功能需先勾選[啟動 Cpk 資料收集]。Cpk
資料報告的格式如下：
點選各欄位可依數值大小重新排序。
亮黃色代表結果異常(低於 CpkSpec)。