TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第228页
Test Research Inc. 214 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software Y_Pos iti on CAD 上的 Y 座標＋ Y 偏移平均值後所 得的 Y 座標 Status 若有 M iss ing 或 C pk ＜ Cpk Spec 則為 NG ， 並以亮黃色表示 若正常顯示為 OK Show Grap hic ：針對所點選的元件繪製時間序列圖。 • 可分別切換顯示各元件 X 、 …
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TR7700 SII DL User Guide–Software 213
各欄位說明如下
名稱
說明
Name
受測元件名稱
Type
受測元件型態
Count
列入計算的檢測次數
X_Max
X 偏移最大值（單位：mm）
Y_Max
Y 偏移最大值（單位：mm）
Theta_Max
Theta 偏轉角度最大值（單位：mm）
X_Min
X 偏移最小值（單位：mm）
Y_Min
Y 偏移最小值（單位：mm）
Theta_Min
Theta 偏轉角度最小值（單位：mm）
X_Average
X 偏移平均值
Y_Average
Y 偏移平均值
Theta_Average
Theta 偏轉角度平均值
X_Sigma
X 偏移的標準差
Y_Sigma
Y 偏移的標準差
Theta_Sigma
Theta 偏轉角度的標準差
X_CpkSpec
判斷 X_Cpk 合格與否的臨界值
X_Cpk
X 偏移的 Cpk 值
Y_CpkSpec
判斷 Y_Cpk 合格與否的臨界值
Y_Cpk
Y 偏移的 Cpk 值
Theta_CpkSpec
判斷 Theta_Cpk 合格與否的臨界值
Theta_Cpk
Theta 偏轉角度的 Cpk 值
Missing
缺件數目
X_Position
CAD 上的 X 座標＋X 偏移平均值後所得的 X 座標
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214 TR7700 SII DL User Guide–Software
Y_Position
CAD 上的 Y 座標＋Y 偏移平均值後所得的 Y 座標
Status
若有 Missing 或 Cpk＜CpkSpec 則為 NG，並以亮黃色表示
若正常顯示為 OK
Show Graphic
：針對所點選的元件繪製時間序列圖。
• 可分別切換顯示各元件 X、Y、Theta 個別偏移量的曲線圖
• 橫軸代表檢測次數，縱軸代表偏移量（X、Y 單位為 mm，Theta 單位為度）
• 圖中紅色直線代表平均值
Write To File
：將原始資料以文字檔輸出，共有三種格式可以輸出系統會分次詢問，
使用者可針對需要的原始檔輸出即可。
Save Path
：在此可設定文字檔輸出的路徑。
OK
：關閉此視窗。
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TR7700 SII DL User Guide–Software 215
3.7.11.3 計算公式
檢測次數
總偏移量
平均值
=
)(
Average
)1(
)(
)(
2
−
−Σ
=
檢測次數
平均值偏移值
標準差
Sigma
−−
=
Sigma
LSLAverage
Sigma
AverageUSL
MinCpk
3
)(
,
3
)(
USL 以及 LSL 分別為規格上下限，可在檢測模式啟動時輸入
3.7.12
量測工具
3.7.12.1 量測 Dot-Pitch 重複性(50 次)
系統將重複量測試校正片上兩個座標點的距離 50 次。
3.7.12.2 量測 Fiducial 0-1 重複性(50 次)
系統重複量測兩對位標記的距離 50 次，並將結果儲存在[C:\AOI]資料夾中，第一組 50
次的量測結果檔名為[fireport1.txt]，若再進行多次量測則檔名依序會存為[fireport2.txt]、
[fireport3.txt]…。進行量測前需選擇選擇電路板出板或不出板來進行量測。