TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第232页
Test Research Inc. 218 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 3.7.16 產生實體影像資料 產生影像資料至 ICT 或 ATE 設備。
Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software 217
3.7.15
元件狀態
此功能須進入[Train]的畫面中才可以點選。
勾選[Pass]、[Fail]及[Untest]後，按下[Refresh]按鈕，系統會自動統計出本片板子檢測
時通過、缺點或是不測的元件數。
Test Research Inc.
218 TR7700 SII DL User Guide–Software
3.7.16
產生實體影像資料
產生影像資料至 ICT 或 ATE 設備。
Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software 219
3.7.17
線上元件資料輸出至 SPC 統計
勾選[線上元件資料輸出至 SPC 統計]，可將元件中[Missing]框的 X 方向偏移量、Y 方
向偏移量以及元件旋轉角度等檢測結果資料輸出至 SPC 統計。在此須先設定各輸出結
果的上下規格界線，會一併傳至維修站。
資料輸出的位置與[參數]>[電路板]>{維修站]中設定的路徑相同。
當重新載入之前的程式後，需將程式儲存一次，以輸出以程式名稱命名的規格檔(副檔
名為 lsu)到所建立的資料夾中，需確定是否有產生此檔，此動作對於每個之前已完成
的程式僅需做一次即可。若有新增程式或修改程式時，系統會自動產生此檔，無需再
儲存一次。
每當檢測完一塊板子，就會輸出一個副檔名為 pfl 的檔案。