TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第259页
Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 245 視窗說明：
Test Research Inc.
244 TR7700 SII DL User Guide–Software
選擇比較的版本後，再按下[Compare]，在左列表中顯示了版本 3 有檢測，但版本 test
沒有檢測的元件；右列表中顯示了版本 test 有測但版本 1 沒有檢測的元件。
3.7.31
離線調整模式
利用多片板子檢測的結果在離線機台進行資料的處理。在離線調整模式下抓取影像時，
影像將會存於以掃描時間為檔名的目錄之下。在離線調整模式下檢測時，可以收集檢
測資料。在關閉離線調整模式時，如果有檢測資料，則會顯示出統計對話框。
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TR7700 SII DL User Guide–Software 245
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246 TR7700 SII DL User Guide–Software
1. 分類選擇區
分類區
檢測窗表示區
統計圖區
門檻區
設定區
建議值表示區
統計值區
Set Passlevel 按鍵：把建議值設定到 Project 對應的分類下的檢測窗之中。
View 按鍵：查看檢測窗中的值與建議值相等的檢測窗。
Inspect 按鍵：執行[Inspect Fov Images]，並重新載入統計資料以重新查看。
功能說明
Step 1. 勾選[離線調整模式]，之後將電路板進板，選擇[工具]>[擷取 FOV 影像]以獲
取該片電路板的 FOV 影像。接著，換下一片電路板，再抓取其 FOV 影像。
重複這些步驟，直到所需要的電路板影像都完成取像為止。最後影像會儲存
在 Project 所在目錄底下的[FovImage]目錄下，其中一個子目錄儲存一整片
板子的 FOV 影像，擷取幾片板子的影像就會產生幾個子目錄，目錄名稱為一
組數字，用以代表掃描時的年月日時分秒。
Step 2. 在離線調整模式下檢測時，可以收集檢測資料。當影像收集完畢以後，執行
[檢測]>[檢測 FOV 影像]。檢測後的結果值存在 Project 目錄下面的[statistic]
目錄之下，其中的每一個檔案代表一片板子的檢測結果。
在關閉離線調整模式時，如果有 Step 2 所提到的檢測資料，則會顯示出統計對話框如
圖。依圖示範例由分類選擇區看出該範例是以 Type 與 Algorithm 進行分類。
分類區的最上面的[Usable:used,2497]表示目前有 2497 筆有效的檢測窗。而一個有效
的檢測窗被定義為，統計資料與 Project 都有該筆檢測窗。[Usable:used,2497]的子節