TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第260页
Test Research Inc. 246 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 1. 分類選擇區 分類區 檢測窗表示區 統計圖區 門檻區 設定區 建議值表示區 統計值區 Set Pass level 按鍵：把建議值設定到 Project 對應的分類下的檢測窗之中。 View 按鍵：查看檢測窗中的值與建議值相等的檢測窗。 Inspect 按鍵：執行 [Inspect Fov Images] ，…
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TR7700 SII DL User Guide–Software 245
視窗說明：
Test Research Inc.
246 TR7700 SII DL User Guide–Software
1. 分類選擇區
分類區
檢測窗表示區
統計圖區
門檻區
設定區
建議值表示區
統計值區
Set Passlevel 按鍵：把建議值設定到 Project 對應的分類下的檢測窗之中。
View 按鍵：查看檢測窗中的值與建議值相等的檢測窗。
Inspect 按鍵：執行[Inspect Fov Images]，並重新載入統計資料以重新查看。
功能說明
Step 1. 勾選[離線調整模式]，之後將電路板進板，選擇[工具]>[擷取 FOV 影像]以獲
取該片電路板的 FOV 影像。接著，換下一片電路板，再抓取其 FOV 影像。
重複這些步驟，直到所需要的電路板影像都完成取像為止。最後影像會儲存
在 Project 所在目錄底下的[FovImage]目錄下，其中一個子目錄儲存一整片
板子的 FOV 影像，擷取幾片板子的影像就會產生幾個子目錄，目錄名稱為一
組數字，用以代表掃描時的年月日時分秒。
Step 2. 在離線調整模式下檢測時，可以收集檢測資料。當影像收集完畢以後，執行
[檢測]>[檢測 FOV 影像]。檢測後的結果值存在 Project 目錄下面的[statistic]
目錄之下，其中的每一個檔案代表一片板子的檢測結果。
在關閉離線調整模式時，如果有 Step 2 所提到的檢測資料，則會顯示出統計對話框如
圖。依圖示範例由分類選擇區看出該範例是以 Type 與 Algorithm 進行分類。
分類區的最上面的[Usable:used,2497]表示目前有 2497 筆有效的檢測窗。而一個有效
的檢測窗被定義為，統計資料與 Project 都有該筆檢測窗。[Usable:used,2497]的子節
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點為 Type 分類，如 T:74HC138D-SO16,32，其中的 T 代表元件型別，74HC138D-
SO16 為型別名稱，32 代表有效的檢測窗數量。T:74HC138D-SO16,32 的子節點為
Algorithm 分類，如 A:LEAD,16，其中的 A 代表 Algorithm，LEAD 為 Algorithm，16
為檢測窗數量。而使用者選擇了 Usable:used,2497 的子節點 T:74HC138D-SO16,32
下的節點 A:LEAD,16，其中的義意為要查看 74HC138D-SO16 這個型別的所有 LEAD
檢測窗的統計資料。
在檢測窗表示區中表示了在該分類下的所有檢測窗，任選一個檢測窗，將會跳到 Train
Dialog 下所對應的檢測窗。
統計圖區展示了該分類下所有檢測窗的統計圖，因為在分類選擇區中 PassLevel 未被
勾選，所以會依據 Algorithm 取得內定對應的結果值以進行統計。
門檻區表示目前 Project 對應該分類下所有的門檻值。經由點選該值可以切換顯示在
統計圖區之中。
設定區顯示使用者所設定的值，當使用者在統計圖區點選左鍵時，會把該對應值設定
到設定區之中，就跟門檻區一樣，經由點選該值可以切換顯示在統計圖區之中。
統計值區顯示了統計圖上的相關統計值。而且就跟門檻區一樣，經由點選該值可以切
換顯示在統計圖區之中。
建議值表示區，不論是點選門檻區、設定區還是統計值區，上面點選的值都會被設定
一份到建議值表示區。當使用者點選 Set Passlevel 或 View 時，都會依據該值進行操
作
3.7.32
設定傳至維修站的板號
供使用者更改多連板的各子板板號，如下圖所示，為四連板的情形。