TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第381页

Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 367 CHIP – Void 框

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Test Research Inc.
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Step 3. 選擇檢測框進行參數編輯。檢測框位置及大小參數值的修改方法於
0
說明,
舉例說明如下。修改後按下[OK]
CHIPMissing
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TR7700 SII DL User GuideSoftware 367
CHIPVoid
Test Research Inc.
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Step 4. 按下[Tool/ Save for Model Library]存檔。