TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第396页
Test Research Inc. 382 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software • 若設定邏輯的檢測框是位於 IC 腳上的檢測框，則系統會詢問是否要將邏輯複製 到其他 IC 腳上相對應的檢測框上，若有需要請按 [ 是 ] ，系統將會出現視窗告知複 製了多少個邏輯，請按 [ 確定 ] 。 改變瑕疵 ：可以改變瑕疵的邏輯或名稱。選取一瑕疵並編輯欲修改的部分 ( 瑕疵名稱或 邏輯方程式 ) ，接著…
Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software 381
• 以多個群組建立更複雜的邏輯的方式為，選取視窗列表中兩個已設好的邏輯方式，
勾選群組後，再按下[群組]按鈕即可，如下圖所示。
刪除群組
：刪除在視窗列表中選擇欲的項目。
刪除瑕疵
：選擇瑕疵名稱後，點選[刪除瑕疵]，系統會出現確認視窗，選擇[是]，就可
以將它刪除；選擇[否]，則不會進行刪除的動作。
新增瑕疵
：在下方列表視窗中欲設定的邏輯方程式上按滑鼠左鍵兩下，可將方程式列
在[邏輯]視窗中，接著在[瑕疵]中輸入欲給予的瑕疵名稱，再按下[新增瑕疵]，會出現
確認視窗。選擇[是]，即完成設定新瑕疵；選擇[否]，則不會設定新瑕疵。
Test Research Inc.
382 TR7700 SII DL User Guide–Software
• 若設定邏輯的檢測框是位於 IC 腳上的檢測框，則系統會詢問是否要將邏輯複製
到其他 IC 腳上相對應的檢測框上，若有需要請按[是]，系統將會出現視窗告知複
製了多少個邏輯，請按[確定]。
改變瑕疵
：可以改變瑕疵的邏輯或名稱。選取一瑕疵並編輯欲修改的部分(瑕疵名稱或
邏輯方程式)，接著按下[改變瑕疵]會出現確認視窗，確認後按下[是]即可改變瑕疵的設
定；若按[否]則不會進行改變的動作。
檢視
：按下[檢視]按鈕可以把[邏輯]文字方塊中有關的檢測框在圖上用紅色顯示出來。
4.9.8.2 屬性
在此可以設定檢測框屬性的參數，屬性設定說明如下：
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TR7700 SII DL User Guide–Software 383
(pin-1)
：表示選擇的檢測框檢測的 IC 腳的號碼，若為-1 表示此檢測框不檢測任何 IC
腳。
元件型式
：顯示元件的封裝形式。
名稱
：顯示選擇的檢測框名稱。
角度
：顯示此元件的角度。若本顆元件角度錯誤可在此直接修正。
X
：顯示檢測框中心點所在的 X 方向座標位置，以元件本體框中心位置為原點，向右
為正。
Y
：顯示檢測框中心點所在的 Y 方向座標位置，以元件本體框中心位置為原點，向上
為正。
DX
：顯示檢測框水平方向的長度，單位為 um。
DY
：顯示檢測框垂直方向的長度，單位為 um。
RGB
：顯示所點選檢測框的權重。但對於 Missing 及 Lead 框，其影像的權重無法在
此顯示，需進入權重設定視窗查看。
測試
：下拉式選單選擇檢測框是否要測試。
攝影機
：選擇檢測框所要用來取像的攝影機。
光源
：選擇檢測框要使用的光源。
方法
：選擇檢測框的檢測方法。
錯誤結果
：可以在製作 Library 時即針對檢測框選定[錯誤結果(Fail Result)]字串值。例
如放在電阻類型元件本體上方來測定元件是否翻面的[Void]框，就可以將其錯誤結果設
定為[Upside Down]，則若本檢測框檢測後結果為不良，傳出的錯誤結果就是[Upside
Dow]而不會是[Void]框預設的[VoidFail]。若無設定則系統會以預設的定義為檢測結果。
Inverse
：設定為[True]表示將本檢測框的[逆邏輯]功能開啟。被設定逆邏輯的檢測框檢
測後，若其結果為通過比對條件則系統會顯示 Fail，而未通過比對條件者系統會顯示
[Pass]。
搜尋範圍
：勾選後可設定 Missing 框或 Lead 框的搜尋範圍。若有在此設定則會在後
方 X 及 Y 欄位顯示搜尋範圍大小(單位為 um)，此欄位只能顯示而不能輸入。若沒有