TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第398页
Test Research Inc. 384 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 設定則在 X 及 Y 欄位 中顯示 0 ，且在轉入主程式後系統會以預設值自動設定搜尋範圍。 設定搜尋範圍的方式如下： Step 1. 打開屬性視窗並勾選 [ 搜尋範圍 ] ，在影像編 輯視窗上會出現紫紅色粗實線方框， 而現今元件的搜尋範圍將以淡粉紅色系線框表示，如下圖所示。 Step 2. 點選欲設定搜尋範圍的檢…
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TR7700 SII DL User Guide–Software 383
(pin-1)
：表示選擇的檢測框檢測的 IC 腳的號碼，若為-1 表示此檢測框不檢測任何 IC
腳。
元件型式
：顯示元件的封裝形式。
名稱
：顯示選擇的檢測框名稱。
角度
：顯示此元件的角度。若本顆元件角度錯誤可在此直接修正。
X
：顯示檢測框中心點所在的 X 方向座標位置，以元件本體框中心位置為原點，向右
為正。
Y
：顯示檢測框中心點所在的 Y 方向座標位置，以元件本體框中心位置為原點，向上
為正。
DX
：顯示檢測框水平方向的長度，單位為 um。
DY
：顯示檢測框垂直方向的長度，單位為 um。
RGB
：顯示所點選檢測框的權重。但對於 Missing 及 Lead 框，其影像的權重無法在
此顯示，需進入權重設定視窗查看。
測試
：下拉式選單選擇檢測框是否要測試。
攝影機
：選擇檢測框所要用來取像的攝影機。
光源
：選擇檢測框要使用的光源。
方法
：選擇檢測框的檢測方法。
錯誤結果
：可以在製作 Library 時即針對檢測框選定[錯誤結果(Fail Result)]字串值。例
如放在電阻類型元件本體上方來測定元件是否翻面的[Void]框，就可以將其錯誤結果設
定為[Upside Down]，則若本檢測框檢測後結果為不良，傳出的錯誤結果就是[Upside
Dow]而不會是[Void]框預設的[VoidFail]。若無設定則系統會以預設的定義為檢測結果。
Inverse
：設定為[True]表示將本檢測框的[逆邏輯]功能開啟。被設定逆邏輯的檢測框檢
測後，若其結果為通過比對條件則系統會顯示 Fail，而未通過比對條件者系統會顯示
[Pass]。
搜尋範圍
：勾選後可設定 Missing 框或 Lead 框的搜尋範圍。若有在此設定則會在後
方 X 及 Y 欄位顯示搜尋範圍大小(單位為 um)，此欄位只能顯示而不能輸入。若沒有
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384 TR7700 SII DL User Guide–Software
設定則在 X 及 Y 欄位中顯示 0，且在轉入主程式後系統會以預設值自動設定搜尋範圍。
設定搜尋範圍的方式如下：
Step 1. 打開屬性視窗並勾選[搜尋範圍]，在影像編輯視窗上會出現紫紅色粗實線方框，
而現今元件的搜尋範圍將以淡粉紅色系線框表示，如下圖所示。
Step 2. 點選欲設定搜尋範圍的檢測框，並調整紫紅色功能方塊的大小，使之合乎欲
設定的搜尋範圍大小。注意，搜尋範圍不可比檢測框還小。
Step 3. 按下[設定]按鈕，即可將搜尋範圍設定完成。此時系統顯示搜尋範圍的 X 方
向及 Y 方向長度。
Step 4. 設定完成的新搜尋範圍將以淡粉紅色細線框表示，如下圖所示。
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TR7700 SII DL User Guide–Software 385
影像群組
：當同一形式的元件中有不同群組的元件時，須針對不同群組的元件設定不
同的標準影像，關於群組請參閱
4.2
。
No Image Group
：勾選表示只篩選出包含沒有影像的群組供選擇。例如 0402 這個
Type 中含有 C 及 R 兩個群組，而 C 類已有存入影像，R 類沒有，則勾選[No Image
Group]時，在[影像群組(Image Group)]選單只有出現 R 類供選擇。
增加
：擷取檢測框內的影像至影像區當作標準影像，或稱作待料影像。所抓取的影像
將被儲存在[Image]資料夾中，其檔名顯示在影像的下方。
移除
：移除影像區中的待料影像。
遮罩
：針對元件影像中可能會變動但不影響檢測判定的部分設定遮罩。遮罩的區域為
綠色填滿的部分。另外，若元件影像有作遮罩的動作，在影像外圍會以綠色方塊顯示。