TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第422页

Test Research Inc. 408 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 14) 在比對條件視窗內,設定 [Void] 框的檢測參數 。詳細的參數說明請參閱 4.10.2. 3 。 15) 使用同樣的步驟完成另外一個 [Void] 框的設定 。 16) 當所有的檢測框都設定完成後,按下上方工具列裡的 [ 儲存 ] 按鈕 ( ) 來儲存此類 型元件的程式庫。程式庫將被儲存在 [C: \ …

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12) 接下來進行元件電阻代碼的[Missing]框設定。與先前的[Missing]框一樣的方式,
選擇[Missing]框後,按下屬性視窗裡的[增加]按鈕,並且在權重視窗內調整適當
的影像權重,然後在比對條件視窗內設定參數。
13) 選擇爬錫區的其中一個[Void]框,在權重視窗內設定權重。
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14) 在比對條件視窗內,設定[Void]框的檢測參數。詳細的參數說明請參閱 4.10.2.3
15) 使用同樣的步驟完成另外一個[Void]框的設定
16) 當所有的檢測框都設定完成後,按下上方工具列裡的[儲存]按鈕( )來儲存此類
型元件的程式庫。程式庫將被儲存在[C:\AOI\TRI_USER_LIB]資料夾中,如下圖
所示。到此,此元件類型的檢測框資料庫製作已經完成。
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