TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第435页
Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 421 • Move to Pad Center ：與 Pad 的 Y 方向置中。 • Constrai ned in Pad ： 當 Lead 偏移使得 V oid 與 Ne wColor 偵測到 Pad 以外的非爬錫區，會自動限制 在 Pad 的 Y 方向兩側範圍內。 ( 若同時勾選 Move to Pad Ce…
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B/W Threshold
：設定區分暗與亮的門檻值。舉例來說，若設定值為 120，代表檢
測框內，灰階值落於 0 到 119 之間的區域皆判定為暗，而落於 120 到 255 之間的
區域皆判定為亮。
Bright Ratio
：設定在檢測框中，亮的區域在所有區域占有比例的容許值。
測試方法：選擇檢測的方式為測亮或者測暗。測亮與測暗的定義如下：
• Bright (測亮)：若檢測框中亮的區域在所有區域中占有比例小於設定值時，判定
為 Pass；反之，若超過設定值時，則判定為 Fail。
• Dark (測暗)：若檢測框中亮的區域在所有區域中占有比例小於設定值時，判定
為 Fail；反之，若超過設定值時，則判定為 Pass。
New Lead Related
：開啟與 Nea Lead 框的連動功能。
• Move to Pad Side：Pad Gap 設為 0 即貼齊 Pad 的 X 方向末端，增加 Pad
Gap 即增加距離。
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TR7700 SII DL User Guide–Software 421
• Move to Pad Center：與 Pad 的 Y 方向置中。
• Constrained in Pad：
當 Lead 偏移使得 Void 與 NewColor 偵測到 Pad 以外的非爬錫區，會自動限制
在 Pad 的 Y 方向兩側範圍內。(若同時勾選 Move to Pad Center，則優先置中)
4.10.2.4 Lead Void 框
用來檢查 IC 腳的空焊、翹腳。利用灰階值(0-255)來設定門檻值及所佔比例來判斷是
否通過檢測，與 Void 之檢測原理相同。唯一的差異在於當進行 train 時，軟體會先忽
略亮的區域而不列入檢測範圍計算。因此，就算相同尺寸之檢測框在計算時每個檢測
框之分母仍將會有所差異。
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
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門檻值
(B/W Threshold) –設定區分暗與亮的門檻值。請參閱[Void]框同名稱的解
釋。
Bright Ratio
–設定在檢測框中，亮的區域在所有區域占有比例的容許值。
備註：此檢測框主要用在 Top Camera 下，其功能已逐漸被 Void 框取代。
4.10.2.5 Pin 框
此檢測框是用來檢查元件的偏移、錫多、錫少。利用灰階值(0-255)來設定門檻值及所
佔比例來判斷是否通過檢測。程式製作時需先學習(Train)檢測框中亮的區域大小，再
根據設定之參數來決定可容許之亮暗比例。