TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第436页
Test Research Inc. 422 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 門檻值 (B/W T hreshold ) – 設定區分暗與亮的門檻值。請參閱 [Void] 框 同名稱的解 釋。 Bright Ra tio – 設定在檢測框中，亮的區域在所有區域占有比例的容許值。 備註：此檢測框主要用在 Top Camera 下，其功能已逐漸被 Void 框 取代。 4.10.2. …
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TR7700 SII DL User Guide–Software 421
• Move to Pad Center：與 Pad 的 Y 方向置中。
• Constrained in Pad：
當 Lead 偏移使得 Void 與 NewColor 偵測到 Pad 以外的非爬錫區，會自動限制
在 Pad 的 Y 方向兩側範圍內。(若同時勾選 Move to Pad Center，則優先置中)
4.10.2.4 Lead Void 框
用來檢查 IC 腳的空焊、翹腳。利用灰階值(0-255)來設定門檻值及所佔比例來判斷是
否通過檢測，與 Void 之檢測原理相同。唯一的差異在於當進行 train 時，軟體會先忽
略亮的區域而不列入檢測範圍計算。因此，就算相同尺寸之檢測框在計算時每個檢測
框之分母仍將會有所差異。
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
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422 TR7700 SII DL User Guide–Software
門檻值
(B/W Threshold) –設定區分暗與亮的門檻值。請參閱[Void]框同名稱的解
釋。
Bright Ratio
–設定在檢測框中，亮的區域在所有區域占有比例的容許值。
備註：此檢測框主要用在 Top Camera 下，其功能已逐漸被 Void 框取代。
4.10.2.5 Pin 框
此檢測框是用來檢查元件的偏移、錫多、錫少。利用灰階值(0-255)來設定門檻值及所
佔比例來判斷是否通過檢測。程式製作時需先學習(Train)檢測框中亮的區域大小，再
根據設定之參數來決定可容許之亮暗比例。
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[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
B/W Threshold
：設定區分暗與亮的門檻值。
High Ratio
：檢測框中亮的區域面積與學習而得的亮區面積的最大比例容許值。