TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第445页
Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 431 [Train] 模式下的檢測參數設定畫面： Threshol d low/ high ：設定灰階門檻值範圍。使用者可以藉由調整圖層權重來提 升檢測效果。 low<level <=high, l evel>hi gh, level<=l ow ：設定檢測範圍（介於設定的灰界範圍內、 …
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430 TR7700 SII DL User Guide–Software
4.10.2.9 Warp 框
選擇 FOV 中一個較固定的標記，用來重新定位同一 FOV 內其他檢測框因板彎造成零
件之偏移。一個 FOV 內僅能設定一個 Warp 框。若檢測分數不足，僅表示此檢測框失
去其定位功能，並不會列為電路板上的缺陷。
假設板彎在一個 FOV 之變形量為相同的前提下，每顆元件和 Warp 有一相對的位移量。
因此，當板彎發生時該，在設有 Warp 框的 FOV 中，Warp 框會先定位並計算其偏移
量，再將其偏移量補償回各元件，再開始進行此 FOV 中元件的檢測動作。可選擇方法
一或方法二作為[Warp]框所使用的影像比對方式。
要新增此檢測框需在 Train 模式下，把萬用框移動到所要量測區域後，按下左下方的
[新增板彎框]功能才能增加；若要移除，按下[移除板彎框]。
4.10.2.10 Extra Blob 框
可用來檢測表面刮傷、髒污與 IC 翹腳。
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TR7700 SII DL User Guide–Software 431
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
Threshold low/ high
：設定灰階門檻值範圍。使用者可以藉由調整圖層權重來提
升檢測效果。
low<level<=high, level>high, level<=low
：設定檢測範圍（介於設定的灰界範圍內、
大於設定大於範圍上限，或者設定小於範圍下限。
Defect Pixel Count
：系統會將符合灰階門檻值設定範圍內的畫素(pixel)標示出來，
並將其中相鄰的畫素視為同一群組。使用者可以設定當群組畫素數量高過或者低
於多少才判定為缺陷。若填入數值為 10<=Defect Pixel Count<2500 表示，若檢
測出的的群組畫素數量介於 10~2500 時，才會判定為缺陷。
Principal axis aspect ratio>
：若抓出群組的長寬比大於或小於所輸入的值的話才
視為缺點。若輸入 0 表示此項目不檢測。
change to <
：勾選本選項時，[Principal axis aspect ratio]參數的定義會改為小於，
即群組的長寬比小於所輸入的值的話才視為缺點。
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Defect Size(um)
：設定判定為 Fail 的 Defect 長邊數值(um)。需搭配
DefectNumner 使用。
DefectNumber
：設定在設定 Defect Size 內的缺陷數量容許值。需搭配 Defect
Size(um) 使用。
Short-Side Size
：將 Defect Size 群組計算由長邊改為短邊長度計算。
4.10.2.11 Edge Window 框
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
門檻值
：相臨 pixel 之灰階差異門檻值。
Pixel Count
：設定畫素門檻值。當檢測框範圍內合乎條件的畫素總數大於這個值，
則顯示 Fail。