TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第474页

Test Research Inc. 460 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 4.10.2. 25 Pad 框 根據 Pad 的顏色與色 彩空間 (Color Space) 的方式來檢測 Chip 元件的位置,主要是用 來定位其他有影像的檢測框例如 [ Missing] 、 [Lead ] 和 [Chip ] 框 ( 使用連結功能 ) 。 Color Space 的操作請參閱 5.5.10…

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2. 使用 Color Space 擷取出想要的電極端色彩區域。
3. 使用 Get Color Color Space 內的色彩參數套用到比對條檢視窗內。
4. 設定 Chip window 框的參數設定即完成。
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4.10.2.25 Pad
根據 Pad 的顏色與色彩空間(Color Space)的方式來檢測 Chip 元件的位置,主要是用
來定位其他有影像的檢測框例如[Missing][Lead][Chip](使用連結功能)Color
Space 的操作請參閱 5.5.10 色彩空間
[Train]模式下的檢測參數設定畫面:
參數說明:
位置偏移值 (Shift X/Shift Y,預設 500 µm):設定 Chip 中心點與檢測框中心點的
距離容許值。
旋轉角度 (Rotation,預設預設 8):設定 Chip 旋轉角度的容許值。
尺寸比例(Size X/Size Y(%),預設為 20%):設定標準尺寸與檢測框大小差異百分
比的容許值。
標準尺寸(Standard Size):設定 Chip 元件的標準尺寸。
Set Standard by result:將檢測框大小設定為標準值。
使用說明:
Library 下:
1. 新增一個檢測框移動到 Chip 元件上。
2. 使用 Color Space 擷取出想要的焊盤色彩區域。
3. 使用 Get Color Color Space 內的色彩參數套用到屬性視窗內。
4. 設定 Pad window 框的參數設定即完成。
Train 模式下:
1. 將萬用框移動到 FOV 影像中 Chip 元件上。
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2. 使用 Color Space 擷取出想要的焊盤色彩區域。
3. 使用 Get Color Color Space 內的色彩參數套用到比對條檢視窗內。