TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第534页

Test Research Inc. 520 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 5.5.7 元件編輯區編輯元件的資訊。在欲改變的項目右方打勾後，修改其內容，接著按下 [ 完成 ] ，即可完成本顆元件內容的些改。若要 [ 依種類 ] 或 [ 依板號 ] 修改多顆元件的話須在該項目前先打勾，即可一次修改多顆指定的元件。 1. 元件類型 (Type) ：在右方打勾可修改元件類型。 2. 合併…

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TR7700 SII DL User Guide–Software 519

隱藏所有檢測框

：勾選表示在影像上不顯示任何檢測框。

顯示 RGB

：勾選後，在 FOV 影像的左上角將會顯示 RGB 的權重。前三個數字

分別表示游標位置的 R、G、B 分量，而括弧內的數字表示權重計算後的灰階值，

最後括號內所顯示的是目前滑鼠游標所在的座標位置(左下角為原點)。

顯示遮罩

：顯示 FOV 中被遮罩的地方。

Show Enhance

：顯示使用工具列中，經過影像強化功能後的影像。

10.

隱藏 Skip 檢測框

：勾選後將不顯示忽略不測的檢測框。

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520 TR7700 SII DL User Guide–Software

5.5.7

元件編輯區

編輯元件的資訊。在欲改變的項目右方打勾後，修改其內容，接著按下[完成]，即可完

成本顆元件內容的些改。若要[依種類]或[依板號]修改多顆元件的話須在該項目前先打

勾，即可一次修改多顆指定的元件。

1. 元件類型(Type)：在右方打勾可修改元件類型。

2. 合併元件名(Merge Name) ：將元件之形式前增加元件名稱前之英文字。例如

R5 的形式名稱變更為 R402。

3. 元件名稱(Name)：在右方打勾可修改元件名稱。

4. 群組名(Group)：在右方打勾可修改元件所屬的群組。

5. 旋轉(Rotate)：在右方打勾可修改元件的角度。修改本項目後，[Missing]框及

[Lead]框會被設定為[Untrain]，使用者需再自行加入標準影像。假設該元件的檢

測框超出一個 FOV 的範圍，就無法在此處更改元件角度。

6. Part Number：修改元件的料號。

7. Skip：設定元件是否為不測。

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TR7700 SII DL User Guide–Software 521

5.5.8

FAIL STRING 區

1. Fail String –可以在此針對檢測框選定[錯誤結果(Fail Result)]字串值。如放在電阻

類型元件本體上方來測定元件是否翻面的[Void]框，就可以將其錯誤結果設定為

[Upside Down]，則若本檢測框檢測後結果為不良，傳出的錯誤結果就是[Upside

Dow]而不會是[Void]框預設的[VoidFail]。若無設定則系統會以預設的定義為檢測

結果。

2. Test：設定選定的檢測框是否需要檢測。

3. Inverse：設定選定的檢測框是否要開起逆邏輯功能。勾選表示將本檢測框的[逆

邏輯]功能打開，被設定逆邏輯的檢測框檢測後，若其結果為通過比對條件則系

統會顯示 Fail，而未通過比對條件者系統會顯示[Pass]。

5.5.9

代料影像檢視區

此區域可以檢視所點選檢測框的所有標準影像，並對標準影像進行修改。