TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第535页
Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 521 5.5.8 F AIL S TRING 區 1. Fail Strin g – 可以在此針對檢測框選定 [ 錯誤結果 (Fail Result )] 字串值。如放在電阻 類型元件本體上方來測定元件是否翻面的 [Void] 框，就可以將其錯誤結果設定為 [Upside Down] ，則若本檢測框檢測後結果為不良，傳…
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5.5.7
元件編輯區
編輯元件的資訊。在欲改變的項目右方打勾後，修改其內容，接著按下[完成]，即可完
成本顆元件內容的些改。若要[依種類]或[依板號]修改多顆元件的話須在該項目前先打
勾，即可一次修改多顆指定的元件。
1. 元件類型(Type)：在右方打勾可修改元件類型。
2. 合併元件名(Merge Name) ：將元件之形式前增加元件名稱前之英文字。例如
R5 的形式名稱變更為 R402。
3. 元件名稱(Name)：在右方打勾可修改元件名稱。
4. 群組名(Group)：在右方打勾可修改元件所屬的群組。
5. 旋轉(Rotate)：在右方打勾可修改元件的角度。修改本項目後，[Missing]框及
[Lead]框會被設定為[Untrain]，使用者需再自行加入標準影像。假設該元件的檢
測框超出一個 FOV 的範圍，就無法在此處更改元件角度。
6. Part Number：修改元件的料號。
7. Skip：設定元件是否為不測。
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TR7700 SII DL User Guide–Software 521
5.5.8
FAIL STRING 區
1. Fail String –可以在此針對檢測框選定[錯誤結果(Fail Result)]字串值。如放在電阻
類型元件本體上方來測定元件是否翻面的[Void]框，就可以將其錯誤結果設定為
[Upside Down]，則若本檢測框檢測後結果為不良，傳出的錯誤結果就是[Upside
Dow]而不會是[Void]框預設的[VoidFail]。若無設定則系統會以預設的定義為檢測
結果。
2. Test：設定選定的檢測框是否需要檢測。
3. Inverse：設定選定的檢測框是否要開起逆邏輯功能。勾選表示將本檢測框的[逆
邏輯]功能打開，被設定逆邏輯的檢測框檢測後，若其結果為通過比對條件則系
統會顯示 Fail，而未通過比對條件者系統會顯示[Pass]。
5.5.9
代料影像檢視區
此區域可以檢視所點選檢測框的所有標準影像，並對標準影像進行修改。
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1. Show gray alternative image/ Show color alternative image ( / ) –切換
是要顯示彩色或是黑白的代料影像。
2. Inspect –待測影像與標準影像相比之相似性分數。左上角之藍色數字代表
Enhance 影像的次數。
3. Remove alternative image ：將所選擇的代料影像移除。