TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第551页
Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 537 6.1.1 缺陷位置圖 在本圖上按滑鼠左鍵一次，會顯示出兩倍大的圖。 會將目前所在缺點位置標示出來，並列出其缺點項目。若使用者設定檢測模式為 [ 自動 確認模式 ( Auto Co nfirm Mode ) ] ，此大圖會以兩倍的大小顯示。 若欲開啟已被關閉的缺點位置圖，可在鍵盤上鍵入 [map] +[Enter…
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檢測結果視窗功能介紹
檢測結果視窗分為[Result Mode]及[Fine Tune Mode]兩個畫面，使用者可以視需求在
兩個畫面中切換使用。[Result Mode]主要是檢視檢測結果及檢測統計資料，[Fine
Tune Mode]是提供界面供使用者在結果視窗中可以微調程式。
若使用者在工具列的[操作(Operation)]中選擇[手動確認模式(Confirm Mode)]，則在檢
測完成後，系統預設值會顯示[Fine Tund Mode]畫面；若選擇其他檢測模式，則系統
會預設顯示[Result Mode]。
6.1
結果顯示模式(Result Mode)
視窗分為缺陷位置圖、FOV 影像區以及結果顯示區域，分別說明如下。
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TR7700 SII DL User Guide–Software 537
6.1.1
缺陷位置圖
在本圖上按滑鼠左鍵一次，會顯示出兩倍大的圖。
會將目前所在缺點位置標示出來，並列出其缺點項目。若使用者設定檢測模式為[自動
確認模式(Auto Confirm Mode)]，此大圖會以兩倍的大小顯示。
若欲開啟已被關閉的缺點位置圖，可在鍵盤上鍵入[map] +[Enter 鍵]，即可再將此圖叫
出。
在此圖上按滑鼠右鍵會出現以下選項，其功能說明如下：
•
尋找元件
：點選此按鈕，可指定在大圖上標示所選擇的特定元件。
•
顯示缺點位置圖
：勾選表示下次檢測時要出現本缺點位置圖，不勾表示下次檢測
開始不顯示。
•
依 FOV 來顯示瑕疵
：不勾選表示在圖上標出所有的缺點位置，勾選表示僅標示出
在結果視窗中點選的元件位置。
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•
最上層顯示
：勾選表示從下次檢測開始，本缺點位置圖會顯示在最上層。
6.1.2
FOV 影像區域
顯示錯誤元件的 FOV 影像。使用者可以在功能表中選擇要顯示的元件，在此進行檢視。
6.1.3
結果顯示區域
1. 顯示目前檢測結果為[PASS]或[FAIL]，若點選[顯示檢測]，則此區域會顯示[Test]
圖樣。
統計結果(Yield Statistic)：將電路板檢測結果統計列表，可選擇[By Panel]表示以大板
子數量統計，[By Board]表示以多連板的小板子作統計，[By Component]表示以元件
數量作統計。
• 電路板總數(Total Test Board Count)：檢測過的電路板總數，以單板計。
• 正常板數量(PASS Board Count)：測試結果為通過的電路板數。
• 瑕疵板數量(FAIL Board Count)：測試結果為瑕疵板的電路板數。
• 檢測錯誤數量(Fail-to Confirm-PASS Board Count)：測試結果為錯誤但經由人工
判斷為通過的板子數目。