TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第554页

Test Research Inc. 540 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software • PPY DPMO ： [( 確認為不良的檢測框數 + 誤判的檢測框數 )/( 電路板總數 * 板子上 總檢測框數 )]*1000 000 • FPY Yield – 檢測為正常板數量 / 電路板總數 *100% • FPY DPPM ： [( 確認為不良的元件數 )/ 總元件數 ]*10000 00 • FP…

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Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software 539
• 警告設定(Alarm Setting)：可依[By Panel]，[By Board]，[By Component]的不良
率超過多少後會警報。[Alarm after test count]表示測試多少片後開始本警報功能。
警報時會顯示以下畫面。
• Repair mode：勾選表示與維修站連結，顯示維修站經確認後回傳的統計結果。
使用此功能維修站須配合將[Setting/Other/SPCOutPut]選項設定為[True]。若要
顯示 DPMO 欄位，須在維修站端以[Window]模式 Confirm 資料。
• PPY Yield：(檢測為正常板數量+誤判的板數)/電路板總數*100%
• PPY DPPM：[(確認為不良的元件數+誤判的元件數)/元件總數]*1000000
Test Research Inc.
540 TR7700 SII DL User Guide–Software
• PPY DPMO：[(確認為不良的檢測框數+誤判的檢測框數)/(電路板總數*板子上
總檢測框數)]*1000000
• FPY Yield –檢測為正常板數量/電路板總數*100%
• FPY DPPM：[(確認為不良的元件數)/總元件數]*1000000
• FPY DPMO：[(確認為不良的檢測框數)/(電路板總數*板子的總檢測框
數)]*1000000
• #：點選本按鈕，會出現空白欄位供使用者自行輸入檢測的[電路板總數]、[瑕疵
板數量]及[檢測錯誤數量]。輸入完成後再按[#]按鈕一次即完成設定，系統會將設
定的數字帶入統計結果欄位中。
檢測時間欄位：顯示檢測次數、總檢測時間及尋找定位點的時間。
Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software 541
樹狀圖瑕疵列表：列出瑕疵元件的詳細錯誤內容。
Fail Rank–將元件發生瑕疵的排名列出來。可選擇依元件或依類型列出不良排序。若
在登錄檔中([開始/執行]鍵入[regedit]後按[確定]，
[HKEY_LOCAL_MACHINE\SOFTWARE\TRI]路徑下)，參數值[SaveTop10FailImage]
設定為 1 時，系統會儲存前 10 名不良元件上一次檢測為不良的影像。可直接點選元
件名稱，在 FOV 影像區域檢視儲存的影像。
Fine Tune Mode：切換至顯示[Fine Tune Mode]。
不顯示統計結果(Disable Yield Count)：不顯示出統計結果欄位