TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第555页

Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 541 樹狀圖瑕疵列表：列出瑕疵元件的詳細錯誤內容。 Fail Rank – 將元件發生瑕疵的排名列出來。可選擇依元件或依類型列出不良排序。若 在登錄檔中 ([ 開始 / 執行 ] 鍵入 [regedit] 後按 [ 確定 ] ， [HKEY_LOC AL_MACHINE \ SOFTWARE \ TRI] 路徑下 ) …

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• PPY DPMO：[(確認為不良的檢測框數+誤判的檢測框數)/(電路板總數*板子上
總檢測框數)]*1000000
• FPY Yield –檢測為正常板數量/電路板總數*100%
• FPY DPPM：[(確認為不良的元件數)/總元件數]*1000000
• FPY DPMO：[(確認為不良的檢測框數)/(電路板總數*板子的總檢測框
數)]*1000000
• #：點選本按鈕，會出現空白欄位供使用者自行輸入檢測的[電路板總數]、[瑕疵
板數量]及[檢測錯誤數量]。輸入完成後再按[#]按鈕一次即完成設定，系統會將設
定的數字帶入統計結果欄位中。
檢測時間欄位：顯示檢測次數、總檢測時間及尋找定位點的時間。
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TR7700 SII DL User Guide–Software 541
樹狀圖瑕疵列表：列出瑕疵元件的詳細錯誤內容。
Fail Rank–將元件發生瑕疵的排名列出來。可選擇依元件或依類型列出不良排序。若
在登錄檔中([開始/執行]鍵入[regedit]後按[確定]，
[HKEY_LOCAL_MACHINE\SOFTWARE\TRI]路徑下)，參數值[SaveTop10FailImage]
設定為 1 時，系統會儲存前 10 名不良元件上一次檢測為不良的影像。可直接點選元
件名稱，在 FOV 影像區域檢視儲存的影像。
Fine Tune Mode：切換至顯示[Fine Tune Mode]。
不顯示統計結果(Disable Yield Count)：不顯示出統計結果欄位
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重置統計結果(Reset Yield Count)：將統計結果欄位的數據歸零。
不顯示統計結果(Disable Fail Count)：不顯示出瑕疵板統計欄位。
重置統計結果(Reset Fail Count)：將瑕疵板統計的統計數據歸零。
顯示檢測/顯示錯誤(Display Test/Display Fail)：圖示區顯示[TEST]圖樣亦或[PASS]、
[FAIL]圖樣。