TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第69页

Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 55 依攝影機 :套用到使用相同攝影機的檢測框上 依拷貝單位 :多連板上以一組檢測框為準,相對應的檢測框都套用此設定。如下圖所 示,在左圖電路板中紅色的 Void 框經過參數修改設定後,點依拷貝單位,會套用到參 數的檢測框如右圖紅色框所示。 依型式 ( 相同名稱 ) : 套用到 相同型式元件同方向的檢測框上。如下圖所示,…

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7. 按下[檢測]按鈕確認微調是否成功。
8. 所有的 FOV 都微調過後,按下[儲存專案]將修改的部分儲存起來。
9. [結束]將視窗關閉。
10. 選擇[操作/手動確認模式],電路板進板後,按下[Inspect]開始檢測,並針對結果
進行上述微調作業。
11. 視情況反覆對於多片電路板進行微調直到程式穩定為止。
12. 開始檢測。
2.11
套用範圍視窗介紹
程式製作及微調時,經常會出現以下視窗供使用者選擇設定要套用的範圍,其個別所
代表的意義如下所示。
只應用於此
:只套用到所選擇的檢測框上
依電路板
:多連板上相對應的檢測框都套用此設定。如下圖所示,在左圖電路板中紅
色的 Void 框經過參數修改設定後,點選依電路板,會套用到參數的檢測框如右圖紅色
框所示。
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依攝影機
:套用到使用相同攝影機的檢測框上
依拷貝單位
:多連板上以一組檢測框為準,相對應的檢測框都套用此設定。如下圖所
示,在左圖電路板中紅色的 Void 框經過參數修改設定後,點依拷貝單位,會套用到參
數的檢測框如右圖紅色框所示。
依型式(相同名稱)
套用到相同型式元件同方向的檢測框上。如下圖所示,在左圖電
路板中紅色的 Void 框經過參數修改設定後,點選依型式(相同名稱),會套用到參數的
檢測框如右圖紅色框所示。
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依型式(相同檢測方法)
:套用到相同型式元件使用相同檢測方法的檢測框上。如下圖
所示,在左圖電路板中紅色的 Void 框經過參數修改設定後,點選依型式(相同檢測方
),會套用到參數的檢測框如右圖紅色框所示。
依元件
:本顆元件上的所有相同屬性檢測框皆套用。
For all type
:套用到電路板上所有元件。