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7 Stationserweiterungen Betriebsanleitung SIPLACE S-27 H M 7.6 Feinkalibrierung Sof twareversion SR.503.xx Ausgabe 07/2003 D E 186 7.6 Fei nkalib rierun g 7.6.1 Übersic ht Bei der Feinka librierun g wird de r Bestüc koff…
Betriebsanleitung SIPLACE S-27 HM 7 Stationserweiterungen
Softwareversion SR.503.xx Ausgabe 07/2003 DE 7.5 Keramiksubstrat-Zentrierung
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posite electrochemical materials, elektrolytisch abgeschiedene Verbundstoffe) in den meisten
Fällen eine deutliche Verbesserung des Kontrastes erzielt werden. Auch durch Lötstopplack
überdeckte Passmarken lassen sich auf hellem Untergrund besser erkennen.
– Infrarot-Beleuchtung
Der Einsatz dieser Beleuchtungsart ist insbesondere sinnvoll für Marken, die mit Lötstopplack
abgedeckt sind oder für Marken auf Flex-Material. Bei Silber/Platin-Marken auf Keramik lässt
sich eventuell eine Verbesserung der Erkennung erzielen, was vorab durch eine Probezentrie-
rung/-bestückung festgestellt werden sollte.
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7.6 Feinkalibrierung Softwareversion SR.503.xxAusgabe 07/2003 DE
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7.6 Feinkalibrierung
7.6.1 Übersicht
Bei der Feinkalibrierung wird der Bestückoffset des Automaten vermessen und daraus die Kor-
rekturwerte ermittelt. Das Messprogramm ’Feinkalibrierung’ ist in das SITEST-Programm inte-
griert. Eine ausführliche Beschreibung der Messprozedur finden Sie in der Bedienungsanleitung
’Feinkalibrierung’ (Art.-Nr. 00191655-01)
VORSICHT
Der Zugang zum SITEST-Programm ist mit einem Passwort geschützt. Es darf nur von
Technikern der SIEMENSDEMATIC AG oder von Personen mit entsprechender Qualifikation
aufgerufen und bedient werden. 7
7.6.2 Systemvoraussetzungen
Für den Einsatz der Feinkalibrierung sind folgende Systemvoraussetzungen zu erfüllen:
Automatentyp S-27 HM
Stationsrechner-Software ab Version 503.xx
SITEST ab Version 503.xx
HINWEIS: 7
Die Feinkalibrierung kann nur mit dem 12-Segment-Collect&Place-Kopf durchgeführt werden. 7
7.6.3 Mess- und Hilfsmittel
Im Standardlieferumfang sind enthalten:
– Messplatte (Glasplatte im Metallrahmen)
– Doppelseitig klebende Klarsichtfolie
– Beleuchtungseinheit
– CERAM-Bauelemente im Förderer für den 12-Segment-Collect&Place-Kopf
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7.6.4 Funktionsbeschreibung
Eine größere Anzahl von CERAM-Bauelementen wird auf eine mit einer Klebefolie versehenen
Glasplatte bestückt. Die CERAM-Bauelemente sind auf der Oberseite in den Ecken mit Refe-
renzmarken ausgestattet. In unmittelbarer Nachbarschaft dieser Bauelemente-Marken befinden
sich auf der Glasplatte ebenfalls Referenzmarken.
Abb. 7.6 - 1 Prinzip der Feinkalibrierung
Unmittelbar nach dem Bestücken nimmt die Leiterplattenkamera vier Bildfolgen der zugehörigen
Referenzmarken von Leiterplatte und Bauelement auf. Danach werden mit Hilfe des Auswerte-
programms die Bestückoffsets in X/Y-Richtung und die Winkelabweichung Φ bestimmt. Aus den
Offsetwerten werden die Korrekturwerte errechnet und diese in die Maschinendatei FK_off.ma
des Automaten eingetragen.
7.6.5 Messmodi
Zur Messung können Sie zwischen folgenden Modi wählen:
– Die Werte für einen einzelnen Bestückkopf messen.
– Die Werte für alle Bestückköpfe eines Bearbeitungsbereichs messen.
– Die Werte für den gesamten Automaten messen.
Die Messung lässt sich mit oder ohne Neubestücken der CERAM-Bauelemente beliebig oft wie-
derholen.
Glas-Bauelemente Glasplatte
Gesichtsfeld Leiterplattenkamera