XIA-MD1000操作手册(算法详解 - 第32页

（ 5 ）为了后续资料库的统一管理和调用，元件类型命名方式需要进行规范化定义，考虑到资料库的通用性采用 ( 类型 + 尺寸 +P 引脚 V 版本 ) 这样的排序进行命名。如下图电容为例： C1608 （引脚和版本没必要引入则可以取消）（ 6 ） chi p 电容的检查项目归纳如下：漏件，偏移，错件（损件），虚焊，少锡；可能需要进行检查的项目：短路，侧立。针对上述项目分别设定检查窗口 …

（3）参考事例中元件类型为电容，增加窗口：新增窗口类型默认为 Area，检

测算法默认为 Scale，窗口默认大小 2000*2000 正方形；

（4）按住 ctrl 点窗口调整零件外形窗口尺寸（下图绿色窗口），激活窗口列表

设定窗口类型 BodySearch，调整窗口大小到零件本体大小记录本体长宽

（5）为了后续资料库的统一管理和调用，元件类型命名方式需要进行规范化定

义，考虑到资料库的通用性采用(类型+尺寸+P 引脚 V 版本

)这样的排序进

行命名。如下图电容为例：C1608（引脚和版本没必要引入则可以取消）

（6） chip 电容的检查项目归纳如下：漏件，偏移，错件（损件），虚焊，少

锡；可能需要进行检查的项目：短路，侧立。针对上述项目分别设定检查

窗口

漏件和偏移可以采用一个算法 ContoursFind 达成

激活检查窗口列表中需要进行设定的窗口---选择算法---拖动窗口大小到

零件本体大小---设定目标尺寸的几何参数（取窗口，设定块数量和一致性）

---再次拖动检查窗口大小（搜寻本体的区域）---抽取电容两端电极的亮度

和彩度---再次对目标尺寸的几何参数进行设定（取模板）---最后设定阀值

进行判定（目标尺寸的容许误差：通常建议 10%；X/Y/

θ方向的偏移量：

按照各公司制定实际接受的标准进行设定，图中零件为 1608 电容 X 允许

偏移的量：0.8*0.25=0.2mm=200um ， Y 偏移量设定为：

1.6*0.25=0.4mm=400um，

θ设定值为 5-7°；）

ContoursFind 算法可以得到量化值，同时可以将输出值作为向量进行调

用；向量包含 X/Y。

错件（损件）是针对零件存在后需要进行的检查项目，对此通过

ContoursFind 算法得到的向量需要赋予此项目检查（以确保不产生误

判），电容错件发生情况统计（一）：电容错电容就外观来看只能对亮

度和颜色差异较大的情形进行检查，（二）：电容错电阻可以通过亮度

或是抽取颜色来进行判定，（三）：电容错电感基本上和电容错电容情

形相同

我们着重以第二种情形为主进行介绍

新增加一个窗口---选择 NG 种类（WrongComp）---调整窗口大小（考虑

到元件本身的尺寸亮度颜色变异；实际设定窗口应比特征位置要小）

---选择算法（Scale）---选择需要调用的向量（Vector3）---抽取窗口内的