镭晨AIS63X Series-SPI产品介绍_210203 - 第10页

全光谱的相位调制轮廓测󰌂技术 (PLSM PMP) • 采正弦光栅投影, 8Bit 的分辨率, 将每个相位分为 256 阶,其检测分辨率可以达到 0.37um • 采多次同相位采样的式,保证检测准确性 • 全光谱光源受测线󰆡板颜限制 AIS63X Series-SPI |核原 Phase = tan-1 [(I4-I2)/(I1-I3)]

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相位调制轮廓测󰌂技术
运相位调制轮廓测󰌂技术实现对精密印刷焊锡
膏的三维测󰌂,在保证󰕜速测󰌂的同时,幅提
󰕜测󰌂精度
相位调制轮廓测󰌂技术(PMP),称为相移轮廓
(简称PSP) 基于正弦结构光栅投影,离散相移
获取多幅变形光场图像,再根据多步相移法计算
出相位分布,最后通过三󰁰测󰌂等何法得到
󰕜精度的体积测󰌂结果
全光谱的相位调制轮廓测󰌂技术(PLSM PMP)
采正弦光栅投影,8Bit的分辨率, 将每个相位分为256阶,其检测分辨率可以达到0.37um
采多次同相位采样的式,保证检测准确性
全光谱光源受测线󰆡板颜限制
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Phase = tan-1 [(I4-I2)/(I1-I3)]
采图直投的光闸成像式(PSLM),实现对条纹结构光的软件调制及控制
直接形成󰘔间隔的条纹结构光,通过软件调制及控制。增强对同精度
要求的适应。需机械部件,减少设备的故障率,降低维修成本
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