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マスター不良検出機能についてマスター不良検出機能についてマスター不良検出機能についてマスター不良検出機能についてマスター不良検出機能についてバッドマークを付けるものが少なく単位基板がすべて良品の基板が多い場合、毎回すべての単位基板毎に割基板不良検出を実行するのは、効率が悪くなります。この場合には、マスター不良検出機能が有効となります。単位基板のバッドマークを検出する前に、このマスター不良検出を行い、マスター不良検出バ…

マークイメージマークイメージ

マークイメージ

割基板不良検出機能を使用する場合、割基板不良検出マーク（バッ

ドマーク）のマークイメージを設定します。

黒マーク(遮光) ：黒マーク(遮光)を使用します。

白マーク(入光) ：白マーク(入光)を使用します。

部品前取り部品前取り

部品前取り

割基板不良検出機能を使用する場合、部品前取りを“使用する”ま

たは“使用しない”を設定します。

使用しない：割基板不良検出が完了するまで部品を吸着しません。

使用する：割基板不良検出が完了する前に部品を吸着します。

シーケンスシーケンス

シーケンス

割基板不良検出機能を使用する場合、基板認識機能と割基板不良検

出機能を併用するときに設定します。

バッドマーク先行：基板認識を実行する前に割基板不良検出を実

行します。バッドマークの付けられた単位基

板の基板認識は実行しません。

基板認識先行：割基板不良検出を実行する前に基板認識を実

行します。バッドマーク位置への移動時に基

板認識結果による位置補正を行います。

（（

（

A01_17A01_17

A01_17

））

）

マスター不良検出マスター不良検出

マスター不良検出

機能選択機能選択

機能選択

マスター不良検出の機能を設定します。

使用しない : マスター不良検出機能を使用しません。

使用する : マスター不良検出機能を使用します。

X(X(

横横

横

) [mm]) [mm]

) [mm]

、、

、

Y(Y(

縦）縦）

縦）

[mm] [mm]

[mm]

この機能を“使用する”に設定した場合は、マスター不良検出バッ

ドマーク座標(X、Y)を設定します。

単位： mm

マークイメージ

Fig.3B34

黒マーク（遮光）

機能選択

Fig.3B37

使用しない

0206-004 2-23 AGH01JDTP

2.3 オペレーションデータ

シーケンス

Fig.3B36

バッドマーク先行

使用する

Fig.3B35

部品前取り

000.00

X(横)

[mm]

Y(縦) [mm]

Fig.3B38

マスター不良検出機能についてマスター不良検出機能について

マスター不良検出機能について

バッドマークを付けるものが少なく単位基板がすべて良品の基板が

多い場合、毎回すべての単位基板毎に割基板不良検出を実行するの

は、効率が悪くなります。

この場合には、マスター不良検出機能が有効となります。

単位基板のバッドマークを検出する前に、このマスター不良検出を

行い、マスター不良検出バッドマークが検出されない場合には、す

べての単位基板が良品と判断され、単位基板毎の不良検出動作の実

行が省略されます。

Fig.3B39

2.3 オペレーションデータ

0206-004 2-24 AGH01JDTP

マスター不良検出機能を“使用する”にした場合は、バッド

マークを付けた基板に必ずマスター不良検出バッドマークを

つけてください。

マスター不良検出バッドマークを付けないとすべての割基板

が良品処理されてしまいますので注意してください。

注意

（（

（

A02A02

A02

））

）

基基

基

板板

板

認認

認

識識

識

デデ

デ

ーー

ー

タタ

タ

Fig.3B40 編集画面例

（（

（

A02_01A02_01

A02_01

））

）

基板認識機能選択基板認識機能選択

基板認識機能選択

基板認識機能を設定します。

認識しない: 基板認識機能を使用しません。

認識する : 基板認識機能を使用します。

基板認識方法全体認識基板認識方法全体認識

基板認識方法全体認識

“基板認識機能選択”を“認識する”に設定した場合、全体認識の設

定を以下から選択します。

認識しない: 基板全体認識を行いません。

1 点認識 : 基板全体認識を 1 点で行います。

2 点認識 : 基板全体認識を 2 点で行います。

3 点認識 : 基板全体認識を 3 点で行います。

0206-004 2-25 AGH01JDTP

2.3 オペレーションデータ

認識する

基板認識機能選択

Fig.3B41

基板認識方法全体認識

Fig.3B42

2点認識