操作手册-2016_CH_ - 第37页

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上图为 DIP 件的“气孔”注册窗体图,说明如下:
a) ROI 区域:ROI 区域为焊盘的内椭圆区域,如①中的绿色椭圆区域。
b) 检测算法区域:【检测算法】为“CREST,子检测算法为“气孔”算法,其他参数见②区域
c) 判定区域:默认判定范围为(0 40
d) 气孔参数区域:【有效区域】为 75%;屏蔽比率为 0;蓝色上限为 30,绿色上限为 70,蓝色上限为 90
参数说明见<算法详>中“CREST”算法。
气孔是指检测插件是否发生孔洞外露的检测项。在调试过程中,“气孔”的误报占绝大部分,气孔调节的好坏,
则直接影响 AOI 的误报数量。气孔的参数设置,也是插件检测中,最难把握的。气孔的参数设置,往往涉及到
车间的工艺要求,甚至是品质要求。如品质要求低,对于大气孔(孔洞外露的面积超过实际孔洞的 1/3,甚至为
1/2,在此条件下,可放宽气孔的参数设置。气孔发生的情况很多,各种情况的参数不尽相同。以下为例:
见上图,①区域中发生“气孔”误报。确定“气孔”误报后,查看②区域中“气孔”的返回值,上图中 68
落在判定区间0 36之外。对于此现象,查看待测图,发现待测图的引脚上存在暗黑区域,则需要对“气孔”
的引脚上的暗黑区域进行处理,该类状况下,需要对“气孔”中心区域进行屏蔽,理是“气孔”的中心区域存
在设置引脚。其操作为将屏蔽比率增大至 30则其返回值变为 13符合判定区0 36气孔的调节需要
对气孔的产生,以及气孔的检测原理,都需要理解,在理解前提下,可进行对“气孔”误报出现的各种情况,
行相关的调节。
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3.1.5 红胶的基本检测
3.1.5.1
溢胶,是红胶检测中的常规检测项。它检测元件的电极与焊盘的交界区域是否存在溢胶现象。它采用“Glue
算法,该算法专门检测“溢胶”,它的注册窗体如下
上图为“Glue”算法下的“溢胶”注册窗体,说明如下:
ROI 区域:溢胶框要框住部分电极(58 个像素点),框住部分焊盘区域30 个像素点左右
检测算法区域:【检测算法】选择“Glue”算法,其他参数见②
溢胶的判定参数:默认判定范围为(0 8,单位为像素。
溢胶的参数:【分割参数】默认为 90【分割阈值】就是分割红胶和铜箔的亮度阈值,当亮度低于该阈
值时,则为红胶,否则为铜箔。可根据铜箔和红胶的颜色特征,定义合适的分割阈值【分割线偏移值】
水平方向的屏蔽线,屏蔽线以左为屏蔽区域,以右为分析区域;【屏蔽厚度值】是上下方向的屏蔽区域,
下屏蔽线之间的为分析区域,否则为屏蔽区域。
当电容发生“溢胶”误报时,遵循以下调试:
1)当返回值与判定参数的上限很接近时,如返回值 10,判定范围为(0 8,则在此情况可扩大判定
范围,将判定范围放大至(0 10
2当返回值与判定范围的上限接近时,如返回值 15判定范围为0 10若发生溢胶的区域为焊盘
的两侧时,可采用增加红胶的“屏蔽厚度值”屏蔽该溢胶区域;如红胶发生区域为电极交接处时,可通过适
当降低分割阈值来消除误报,通常以 5 个单位的下降刻度。
3 调节分割阈值。可以将分割阈值由 90 调节至 80 70,调试时,一般以 5 个刻度单位进行调节,
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一般情况分割阈值不能太小,否则会引起漏测,建议小值不能小于 60
3.1.5.2
缺件,是红胶检测的一个必需检测项,它检测元器件是否存在它采用的算法 TOC 算法、OCV 算法、Match
算法、Histogram 算法、OCR 算法和 Length 算法。其中 TOC 算法、OCV 算法、Match 算法、Histogram 算法、
OCR 算法的注册与调试同<炉后程序制作><缺件>中的 TOC 算法、OCV 算法、Match 算法、Histogram 算法、
OCR 算法的注册与调试一致。Length 算法可作为检测炉前的电容、极性二脚件的有效检测算法。
3.1.5.3
虚焊,是红胶检测中的一个常规检测项。它主要是通过检测焊盘上的铜箔成分来检测元件是否发生偏移。它
采用的是 PIN 算法,抽取铜箔成分,其注册窗体如下
上图为“PIN”算法下的“虚焊”注册窗体,说明如下:
ROI 区域:包括引脚框和焊锡框。引脚框为①中等实线框,焊锡框为①中等虚线框。
检测算法区域:【检测算法】为“PIN”算法。其中有少锡、虚焊、空焊三个子检测项。仅空焊为有效
检测项。其他参数见②区域。
虚焊的判定范围:空焊的默认判定范围为(65 100;少锡的判定范围为(0 100虚焊的判定范
围为(0 100
虚焊的抽色参数:空焊的抽色参数中红色范围为65 180,绿色范围为0 70蓝色范围为0
60,亮度范围为(120 255